奥比中光科技集团股份有限公司刘敏获国家专利权
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龙图腾网获悉奥比中光科技集团股份有限公司申请的专利校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115511972B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211078874.X，技术领域涉及：G06T7/80；该发明授权校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置是由刘敏;龚冰冰;刘庆龙;师少光设计研发完成，并于2022-09-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置在说明书摘要公布了：本申请适用于多光谱技术领域，提供了校正矩阵的计算方法、非均匀性误差校正方法及相关装置，计算方法包括：获取白板的标定多光谱图像，并获取标定多光谱图像中每个通道的第一数据；获取多光谱图像传感器的参考位置；根据参考位置确定标定多光谱图像中的参考区域，并获取参考区域中每个通道对应的第二数据；根据第一数据和所述第二数据，计算每个通道对应的校正矩阵。上述方案，通过标定多光谱图像中每个通道的数据及参考区域中每个通道对应的数据，计算每个通道的目标校正矩阵，从而可根据目标校正矩阵对多光谱相机的非均匀性误差进行校正，多光谱相机获得的多光谱图像更加真实。
本发明授权校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置在权利要求书中公布了：1.一种校正矩阵的计算方法，所述校正矩阵用于校正多光谱图像传感器的非均匀性误差，其特征在于，包括： 获取白板的标定多光谱图像，并获取标定多光谱图像中每个通道的第一数据，所述标定多光谱图像由多光谱图像传感器采集得到；其中，所述第一数据为所述标定多光谱图像中每个通道对应的多个像素点数据； 获取所述多光谱图像传感器中的参考位置；其中，所述多光谱图像传感器在所述参考位置处的实际多通道响应曲线与理想多通道响应曲线之间的重合度大于预设阈值； 根据所述参考位置确定所述标定多光谱图像中的参考区域，并获取所述参考区域中每个通道的第二数据；其中，所述第二数据为所述参考区域中每个通道的多个像素点数据的平均值； 根据所述第一数据和所述第二数据，计算每个通道对应的校正矩阵。
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