西安电子科技大学王楠楠获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于局部均值二值量化的图像超分辨率方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115311136B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210765221.2，技术领域涉及：G06T3/4076；该发明授权基于局部均值二值量化的图像超分辨率方法是由王楠楠;李柯宇;辛经纬设计研发完成，并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于局部均值二值量化的图像超分辨率方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于局部均值二值量化的图像超分辨率方法，所述图像超分辨率方法包括：获取待重建的低分辨率图像；将所述待重建的低分辨率图像输入至训练好的超分网络中，得到最终的高分辨图像，其中，所述超分网络包括特征提取模块、特征转化模块和图像重构模块，所述特征转化模块的权重和激活均进行二值量化处理。本发明相比全精度的超分网络模型，本发明中提出的二值网络可以大幅低降低超分模型的计算量以及参数量，有利于超分网络在边缘设备上的部署以及实时地应用。
本发明授权基于局部均值二值量化的图像超分辨率方法在权利要求书中公布了：1.一种基于局部均值二值量化的图像超分辨率方法，其特征在于，所述图像超分辨率方法包括： 获取待重建的低分辨率图像； 将所述待重建的低分辨率图像输入至训练好的超分网络中，得到最终的高分辨图像，其中，所述超分网络包括特征提取模块、特征转化模块和图像重构模块，所述特征转化模块的权重和激活均进行二值量化处理； 其中，所述特征提取模块包括卷积层，所述特征转化模块包括若干堆叠的残差块，所述图像重构模块包括pixelshuffle；所述特征转化模块的激活X的二值量化过程表示为： 其中，为局部均值图，由所有元素的局部均值组成，所述局部均值为预设区域的像素的平均值； 所述局部均值的计算方式为： 其中，为以元素为中心、周边范围内所有通道的元素的局部均值，LM*为局部均值的计算过程。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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