贵州亚芯微电子有限公司朱红星获国家专利权
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龙图腾网获悉贵州亚芯微电子有限公司申请的专利一种集成电路测试治具获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN224081760U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520686739.6,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型一种集成电路测试治具是由朱红星;李章永;胡宗武设计研发完成,并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种集成电路测试治具在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种集成电路测试治具,包括:测试设备和辅助机构;测试设备包括测试仪和用于放置待测试的集成电路的放置台,所述放置台安装到测试仪内部;辅助机构包括固定框架、可对集成电路放置方向进行引导的导向弧板和用于对集成电路进行夹持固定的固定夹板,所述固定框架设置在放置台顶部,本实用新型通过设置辅助机构,不仅可在将集成电路放置到测试设备内部时,对集成电路的移动方向进行引导,使集成电路精准的放置到测试设备内部,避免放置位置出现偏移而导致集成电路与测试治具接触不良,影响测试信号的稳定性和准确性,而且可对集成电路的位置进行夹持固定,保证集成电路在测试过程中的稳定性,可保证集成电路测试信号的准确性。
本实用新型一种集成电路测试治具在权利要求书中公布了:1.一种集成电路测试治具,其特征在于,包括: 测试设备1和辅助机构2; 测试设备1包括测试仪101和用于放置待测试的集成电路的放置台102,所述放置台102安装到测试仪101内部; 辅助机构2包括固定框架201、可对集成电路放置方向进行引导的导向弧板205和用于对集成电路进行夹持固定的固定夹板208,所述固定框架201设置在放置台102顶部。
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