北京京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司张洁获国家专利权
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龙图腾网获悉北京京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司申请的专利测试驱动模组以及测试系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116625426B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310575403.8,技术领域涉及:G01D18/00;该发明授权测试驱动模组以及测试系统是由张洁;周琳;孔德玺;程锦;黄根;陈紫霄;王迎姿;李成;钟文杰;李杨设计研发完成,并于2023-05-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试驱动模组以及测试系统在说明书摘要公布了:本申请公开了一种测试驱动模组及测试系统,属于光电探测领域。所述测试驱动模组用于驱动待测结构进行光敏材料的测试,所述待测结构包括至少一个信号端,所述测试驱动模组包括:至少一个连接结构,用于与所述待测结构的至少一个信号端一一对应地可拆卸连接;至少一个覆晶薄膜,与至少一个所述连接结构一一对应地电性连接。本申请能够降低测试成本,提高测试通用性,且降低待测结构中光敏材料的损坏风险。
本发明授权测试驱动模组以及测试系统在权利要求书中公布了:1.一种测试驱动模组,用于驱动待测结构进行光敏材料的测试,所述待测结构包括至少一个信号端,其特征在于,所述待测结构包括光敏探测器,所述测试驱动模组包括: 至少一个连接结构,用于与所述待测结构的至少一个信号端一一对应地可拆卸连接; 至少一个覆晶薄膜,与至少一个所述连接结构一一对应地电性连接,用于通过对应的连接结构向对应的信号端提供驱动信号。
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