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龙图腾网获悉广东利扬芯片测试股份有限公司申请的专利一种芯片修调预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116259559B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310328348.2，技术领域涉及：H10P74/20；该发明授权一种芯片修调预测方法是由阳靖;钱向东;卢旭坤;蒋卓怡;李沛东;旷法佳;杨柳;谢凯设计研发完成，并于2023-03-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片修调预测方法在说明书摘要公布了：本公开揭示了一种芯片修调预测方法，包括：S100：设置第一待修调芯片的修调次数上限；S200：测量第一待修调芯片的信号频率，获得第一测量值；S300：基于第一测量值将第一待修调芯片归档，并根据第一待修调芯片所在档位的修调预测值对第一待修调芯片进行修调，并记录修调次数；S400：测量第一待修调芯片修调后的信号频率，获得第二测量值；S500：基于第二测量值与测量标准值比对以对第一待修调芯片进行检测，若检测通过，则判定第一待修调芯片为良品，并基于第一待修调芯片的修调次数获得与第一待修调芯片同一档位的第二待修调芯片的修调预测值，同时终止修调程序。

本发明授权一种芯片修调预测方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片修调预测方法，包括如下步骤： S100：设置第一待修调芯片的修调次数上限； S200：测量第一待修调芯片的信号频率，获得第一测量值； S300：基于第一测量值将第一待修调芯片归档，并根据第一待修调芯片所在档位的修调预测值对第一待修调芯片进行修调，并记录修调次数； 其中，通过基于指数平滑的预测方法获得所述修调预测值， 基于指数平滑的预测方法具体表示为： Sn+1=ayn+1-aSn， 其中，Sn是n-1时期通过指数平滑算法预测得到的n时期的预测值；Sn+1是n时期通过指数平滑算法预测得到的n+1时期的预测值；yn是在n时期实际观察值；a是平滑常数，其取值范围为[0,1]； S400：测量第一待修调芯片修调后的信号频率，获得第二测量值； S500：基于第二测量值与测量标准值比对以对第一待修调芯片进行检测，若检测通过，则判定第一待修调芯片为良品，并基于第一待修调芯片的修调次数获得与第一待修调芯片同一档位的第二待修调芯片的修调预测值，同时终止修调程序。

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