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龙图腾网获悉湖南农业大学申请的专利一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116124842B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211709846.3，技术领域涉及：G01N27/04；该发明授权一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法是由李文蔚;周铁安;吴艳阳;李静;范训安设计研发完成，并于2022-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法。本发明通过石英晶体微天平技术实时监测粘附于AT切、BT切双切型石英晶体芯片表面的、无明显细胞‑细胞间相互作用的HeLa和HUVECs细胞群在发生焦亡、凋亡全过程中引起的石英晶体频率、电阻变化，从而测得HeLa和HUVECs细胞焦亡、凋亡过程中细胞群对石英晶体施加的表面应力的实时变化，建立了通过细胞力学响应差异鉴别细胞焦亡与凋亡的方法。

本发明授权一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： 1将AT切石英晶体与BT切石英晶体置于检测池内，所述AT切石英晶体与BT切石英晶体具有相同基础频率、表面形态和一致的表面粘附分子修饰； 2加入细胞，待细胞稳定粘附石英晶体界面后，向检测池内共加入脂多糖和霍乱毒素B亚单位以诱导细胞焦亡，共加入肿瘤坏死因子α和环己酰亚胺以诱导细胞凋亡，全程实时监测AT切、BT切石英晶体的频率、电阻变化； 3通过如下公式测定细胞对石英晶体产生的表面应力ΔS： 其中，KAT＝2.75×10-12cm2dyn-1，KBT＝-2.65×10-12cm2dyn-1分别为AT切、BT切石英晶体的应力系数；tqAT和tqBT分别为以cm单位的石英晶体厚度；△ftAT和△ftBT是在t时刻谐振器经历表面应力产生的新频移影响减去相应f0后的频移； 4通过如下公式测定细胞的存储模量G′与损耗模量G″: 其中，Γ为半带宽，ρc为细胞密度，基于其与纯水密度一致的假设：ρ水＝1.00gcm3，其中Zq为石英晶体的声阻抗，ρc＝0.9933gcm3；半带宽Γ与动态电阻R之间存在如下关系：ΔΓ＝ΔR4πLq，其中Lq为石英晶体在细胞培养基中的电感；Δf为石英晶体表面均匀粘弹性层相较于空气而引起的频移； 5根据细胞焦亡和凋亡过程中ΔS变化差异鉴别细胞焦亡和凋亡，并同时获得细胞焦亡和凋亡过程中细胞粘弹性变化。

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