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龙图腾网获悉上海矽印科技有限公司申请的专利一种基于动态分辨率的多步DTOF测距方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115951368B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211683684.0，技术领域涉及：G01S17/32；该发明授权一种基于动态分辨率的多步DTOF测距方法是由李高志;江建明;朱健军;张睿轶设计研发完成，并于2022-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于动态分辨率的多步DTOF测距方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于动态分辨率的多步DTOF测距方法，是从初步检测到目标到针对目标做高精度定位的一种多步测量方法，从而以较少的直方图RAMbin数量,获得传统一次测距所需要大量直方图RAMbin的效果；在时间数字转换器TDC计数精度保持不变，对于一块深度为N的直方图RAM,如果进行两步测距，可以实现N*N＝N2个bins的测距深度；如果进行三步测距，则可以实现N*N*N＝N3个bins的测距深度；这是一种以kk＝2倍时间成本换取1Nk‑1倍更少直方图RAM资源的方法，从而指数级地减少了所需直方图RAM的大小，对DTOF芯片，尤其是大面阵的DTOF芯片的面积，功耗有很大的改善。

本发明授权一种基于动态分辨率的多步DTOF测距方法在权利要求书中公布了：1.一种基于动态分辨率的多步DTOF测距方法，其特征在于，包括如下步骤： S1、通过从粗分辨率到细分辨率的逐级调整及从粗到细地逐步提高定位目标位置精度：通过距离精度控制器将测距精度调整到低,即舍弃TDC计数器的低nbits,仅将高nbitscnt[2n-1:n]送入直方图，以覆盖整个目标测距范围，从而获得待测物体的大概范围,该距离值作为最终测距的高n位值；经过数字信号分析，设最后的待测物体bin值为Nmsb； S2、通过调整距离精度控制器，仅接收上述步骤中选定的高位值信息,即只有TDC高nbits的值为Nmsb，才将低nbitscnt[n-1:0]计数值送入直方图统计；由DSP分析该直方图统计信息，获得目标范围内更高精度待测物体位置信息，该位置信息设为Nlsb，作为最终测距值的低nbits； S3、将S1步骤和S2步骤所获得的高低nbits数据合并，得到最终的2nbits距离值{Nmsb,Nlsb}； 所述S1步骤中的逐级调整至少为两步； 所述分辨率包括单像素、阵列像素。

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