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龙图腾网获悉天芯互联科技有限公司申请的专利非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115547400B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211056882.4，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法是由苏鹏;何海平;曾泉;江京;刘建辉设计研发完成，并于2022-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法。测试系统包括上位机、系统控制主板和多个待测芯片子板；上位机用于发送测试指令和测试算法数据到系统控制主板，以及接收系统控制主板转发的测试结果；系统控制主板用于接收并解析上位机发送的测试指令和测试算法数据，分发测试指令和测试算法数据到多个待测芯片子板，以及转发待测芯片子板生成的测试结果到上位机；待测芯片子板包括zynq主控单元和非易失性存储芯片，zynq主控单元用于接收并解析测试指令，通过测试图形算法完成对非易失性存储芯片的测试，以及获取并分析非易失性存储芯片的测试数据，以生成并转发测试结果到系统控制主板。上述方案，可以提高芯片测试效率。

本发明授权非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法在权利要求书中公布了：1.一种非易失性存储芯片测试系统，其特征在于，所述非易失性存储芯片测试系统包括上位机、系统控制主板和多个待测芯片子板； 所述上位机通过网络通讯协议与所述系统控制主板连接；所述上位机用于发送测试指令和测试算法数据到所述系统控制主板，以及接收所述系统控制主板转发的测试结果，并生成测试报告； 所述系统控制主板通过工业总线与所述多个待测芯片子板连接；所述系统控制主板用于接收并解析所述上位机发送的所述测试指令和所述测试算法数据，分发所述测试指令和所述测试算法数据到所述多个待测芯片子板，以及转发所述待测芯片子板生成的所述测试结果到所述上位机； 所述待测芯片子板包括zynq主控单元和非易失性存储芯片，所述zynq主控单元与所述非易失性存储芯片连接；所述zynq主控单元用于接收并解析所述测试指令，通过所述测试算法数据对应的测试图形算法完成对所述非易失性存储芯片的测试，以及获取并分析所述非易失性存储芯片的测试数据，以生成并转发所述测试结果到所述系统控制主板。

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