特克特朗尼克公司S·R·贝恩获国家专利权
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龙图腾网获悉特克特朗尼克公司申请的专利高速输入/输出裕度测试的系统、方法和设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113396396B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080011816.8,技术领域涉及:G06F11/273;该发明授权高速输入/输出裕度测试的系统、方法和设备是由S·R·贝恩;D·S·弗雷利奇;S·A·哈扎德;J·H·安德鲁斯设计研发完成,并于2020-01-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本高速输入/输出裕度测试的系统、方法和设备在说明书摘要公布了:用于高速IO裕度测试的系统、设备和方法可以筛选大量的预生产和生产部件,并且识别电特性已经改变到足以影响操作的情况。所公开的裕度测试仪比传统的BERT和示波器成本更低、更易于使用并且更快,并且可以在具有满负载和串扰的其标准操作状态下在全部多通道IO链路上操作。裕度测试仪在任一方向或两个方向上同时评估受测设备的操作多通道高速IO链路的电接收器裕度。在一种针对特定技术的形式中,裕度测试仪的实施例可实现为插入卡裕度测试仪以测试受测主板的主板插槽,或实现为具有插槽的主板以测试插入卡。
本发明授权高速输入/输出裕度测试的系统、方法和设备在权利要求书中公布了:1.一种测试设备,包括: 一个或多个印刷电路板PCB; 至少一个接口,耦合到一个或多个PCB; 一个或多个PCB上的裕度测试电路,所述裕度测试电路包括: 裕度测试发射器和或裕度测试接收器;以及 控制器,耦合到至少一个接口, 其中所述裕度测试发射器和或裕度测试接收器在控制器的控制下,并且 其中所述控制器被配置成: 建立受测设备DUT的单通道或多通道高速输入输出IO链路,其中对于单通道或多通道高速IO链路中的一个或多个通道,所述控制器实现物理和逻辑链路层,其经由至少一个接口将测试设备的裕度测试电路与DUT通信地连接;并且 在发射Tx和接收Rx方向中的任一个或两者上评估单通道或多通道高速IO链路中的一个或多个通道的电裕度,其中在Tx方向上,控制器使裕度测试发射器向DUT发射由裕度测试电路生成的数据,并且在Rx方向上裕度测试接收器从DUT接收数据; 其中,评估电裕度包括: 针对多个受测设备DUT中的每个DUT,针对DUT的多通道高速IO链路的每个高速IO通道,在Tx和接收Rx方向中的任一个或两者上评估定时眼宽裕度; 基于评估,检测多个DUT中的每个DUT的定时眼宽裕度测量,所述定时眼宽裕度测量跨多个DUT对于相同通道一致地低于预定阈值;以及 基于对多个DUT中的每个DUT的眼宽和或眼高裕度测量的检测来识别潜在DUT设计问题,所述眼宽和或眼高裕度测量跨多个DUT对于相同通道一致地低于预定阈值。
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