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深圳市创元微电子科技有限公司韦文勇获国家专利权

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龙图腾网获悉深圳市创元微电子科技有限公司申请的专利一种屏幕老化测试方法、系统、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121432033B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202512051529.7,技术领域涉及:G01R31/00;该发明授权一种屏幕老化测试方法、系统、电子设备及存储介质是由韦文勇;何海生;何栢根;齐斌斌设计研发完成,并于2025-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

一种屏幕老化测试方法、系统、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供了一种屏幕老化测试方法、系统、电子设备及存储介质,涉及老化测试技术领域,方法包括:响应于用户输入或预设程序,为目标被测屏幕配置包含信号时序、电源参数及监测阈值的测试策略,允许为电源控制通道和信号控制通道设定彼此独立且具有时序关系的控制指令;通过控制单元生成与目标被测屏幕对应的独立的控制信号,分别驱动对应的目标电源控制通道和目标信号控制通道;通过监测单元实时采集目标被测屏幕在测试过程中的工作参数;基于实时采集的工作参数与监测阈值的比较结果,当确定目标电源控制通道或目标信号控制通道存在异常时,执行预定的处理操作。实施本申请的技术方案,提高了屏幕老化测试的可靠性。

本发明授权一种屏幕老化测试方法、系统、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种屏幕老化测试方法,其特征在于,应用于具有多个独立电源控制通道和多个独立信号控制通道的老化测试系统中,包括: 测试策略配置步骤:响应于用户输入或预设程序,为目标被测屏幕配置包含信号时序、电源参数及监测阈值的测试策略;其中,所述测试策略允许为电源控制通道和信号控制通道设定彼此独立且具有时序关系的控制指令,所述目标被测屏幕为多个被测屏幕中的任一个被测屏幕; 通道解耦控制步骤:根据所述测试策略,通过控制单元生成与所述目标被测屏幕对应的独立的控制信号,分别驱动对应的目标电源控制通道和目标信号控制通道,以使得在测试过程中,施加至所述目标被测屏幕的视频信号和至少一路工作电源能够被独立地接通、断开或调节; 参数实时监测步骤:通过对应于所述目标电源控制通道和或所述目标信号控制通道的监测单元,实时采集所述目标被测屏幕在测试过程中的工作参数,所述工作参数包括所述目标电源控制通道的供电参数和或与所述目标信号控制通道对应的信号传输状态参数; 异常处理步骤:基于实时采集的所述工作参数与所述监测阈值的比较结果,当确定所述目标电源控制通道或所述目标信号控制通道存在异常时,执行预定的处理操作,所述处理操作包括以下至少之一:隔离异常通道;记录异常数据;调整异常通道的控制参数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳市创元微电子科技有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市龙华区观湖街道鹭湖社区观盛五路1号4栋日海综合楼302;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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