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龙图腾网获悉沐曦集成电路(上海)股份有限公司申请的专利批量运行目标测试用例的方法、电子设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121348052B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511914975.X，技术领域涉及：G06F9/50；该发明授权批量运行目标测试用例的方法、电子设备和介质是由杨寒嘉设计研发完成，并于2025-12-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本批量运行目标测试用例的方法、电子设备和介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种批量运行目标测试用例的方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、获取用户An对应的并行度Bn并将Bn划分为第一并行度B1n和第二并行度B2；步骤S2、获取用户An对应的目标测试用例列表Ln，Ln={C1n,C2n,...,Cin,...,Cfnn}，Cin=C1in,C2in,C3in；步骤S3、按序对每一Cin执行：判断An当前对应的可用第一并行度数量是否大于等于C3in，若大于，则为Cin分配C3in个计算资源单元，基于C1in和C2in执行Cin，直至执行完所有Cin。本发明减少了批量运行目标测试用例过程中计算资源的堵塞，提高了芯片验证效率。

本发明授权批量运行目标测试用例的方法、电子设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种批量运行目标测试用例的方法，其特征在于，包括： 步骤S1、获取用户An对应的并行度Bn并将Bn划分为第一并行度B1n和第二并行度B2n，Bn为用户An对应的计算资源单元总数，第一并行度为B1n为用户An对应的用于执行目标测试用例的计算资源单元数量，第二并行度B2n为用户An对应的用于执行非目标测试用例的计算资源单元数量，n的取值范围为1到N，N为用户总数，Bn=B1n+B2n； 步骤S2、获取用户An对应的目标测试用例列表Ln，Ln={C1n,C2n,...,Cin,...,Cfnn}，其中，Cin为Ln中第i个目标测试用例，i的取值范围为1到fn，fn为An对应的目标测试用例总数，Cin=C1in,C2in,C3in，C1in为Cin对应的测试用例名，C2in为Cin对应的测试用例种子信息，C3in为Cin对应的所需计算资源单元数量； 步骤S3、按序对每一Cin执行：判断An当前对应的可用第一并行度数量是否大于等于C3in，若大于，则为Cin分配C3in个计算资源单元，基于C1in和C2in执行Cin，直至执行完所有Cin； 所述步骤S2包括： 步骤C21、获取侯选测试用例，侯选测试用例包括对应的测试用例名，测试用例原始种子信息和所需计算资源单元数量； 步骤C22、判断每一侯选测试用例对应的测试用例名是否存在于预设的测试用例定义文件中，若不存在，则将侯选测试用例删除，生成基础测试用例列列表{D1n,D2n,...,Djn,..,Dgnn}，Djn为第j个基础测试用例，j的取值范围为1到gn，gn为基础测试用例总数，gnfn，Djn=D1jn,D2jn,D3jn，D1jn为Djn对应的测试用例名，D2jn为Djn对应的基础测试用例种子信息，D3jn为Djn对应的所需计算资源单元数量； 步骤C23、获取预设随机次数E，E1，fn=E×gn； 步骤C24、设置当前随机序号e=0，设置C1[j+e×gn]n=D1jn，C2[j+e×gn]n=D2jn，C3[j+e×gn]n=D3jn，生成C[j+e×gn]n； 步骤C25、若eE，则设置e=e+1，执行步骤C26，否则，执行步骤C27； 步骤C26、为D1jn随机生成测试用例种子信息H2jn，C1[j+e×gn]n=D1jn，C2[j+e×gn]n=H2jn，C3[j+e×gn]n=D3jn，生成C[j+e×gn]n，返回执行步骤C25； 步骤C27、基于当前所有生成的C[j+e×gn]n，按照C[j+e×gn]n的生成顺序生成所述目标测试用例列表Ln。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人沐曦集成电路(上海)股份有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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