沐曦集成电路(上海)股份有限公司许达获国家专利权
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龙图腾网获悉沐曦集成电路(上海)股份有限公司申请的专利芯片性能自动分析方法、电子设备和介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121166470B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511715802.5,技术领域涉及:G06F11/26;该发明授权芯片性能自动分析方法、电子设备和介质是由许达;王灿;周俊设计研发完成,并于2025-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片性能自动分析方法、电子设备和介质在说明书摘要公布了:本发明涉及芯片技术领域,尤其涉及一种芯片性能自动分析方法、电子设备和介质,方法包括步骤S1、获取待处理测试用例仿真波形数据文件和目标芯片模块的目标信号组成列表;步骤S2、将预设的芯片性能自动分析脚本名称、待处理测试用例仿真波形数据文件名称、目标芯片模块的目标信号组成列表名称、目标时间段信息添加至芯片性能自动分析脚本触发指令中,启动芯片性能自动分析脚本触发指令;步骤S3、调用芯片性能自动分析脚本生成目标信号数据列表;步骤S4、基于目标信号数据列表,调用芯片性能自动分析脚本每一目标芯片模块对应的芯片性能指标。本发明提高了芯片性能分析的效率和准确性。
本发明授权芯片性能自动分析方法、电子设备和介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片性能自动分析方法,其特征在于,包括: 步骤S1、获取待处理测试用例仿真波形数据文件和目标芯片模块的目标信号组成列表; 所述待处理测试用例仿真波形数据文件为.fsdb或.vf文件,包括目标芯片模块中所有信号随时间变化的数据; 步骤S2、将预设的芯片性能自动分析脚本名称、待处理测试用例仿真波形数据文件名称、目标芯片模块的目标信号组成列表名称、目标时间段信息添加至芯片性能自动分析脚本触发指令中,启动所述芯片性能自动分析脚本触发指令; 通过调用芯片性能自动分析脚本能够自动实现步骤S3以及步骤S4的操作; 步骤S3、调用所述芯片性能自动分析脚本从所述待处理测试用例仿真波形数据文件中获取目标时间段内目标芯片模块的目标信号组成列表中每一信号对应的数据,生成目标信号数据列表; 步骤S4、基于所述目标信号数据列表,调用所述芯片性能自动分析脚本按照每类目标信号数据对应的芯片性能指标获取方式获取目标时间段内每一目标芯片模块对应的芯片性能指标; 若所述目标芯片模块包括遵循validready接口协议的接口,目标芯片模块的目标信号组成列表包括{req_tag}类型对应的信号,req_tag为请求唯一标识;{req_tag}对应的数据为在目标芯片模块发起对应请求的时间和向目标芯片模块基于对应请求返回信息的时间; 若所述目标信号数据对应的芯片性能指标为延迟路径时间,则所述步骤S4包括: 步骤E41、调用所述芯片性能自动分析脚本,获取预设的req_tag对应的延迟路径分析点{A1,A2,...,An,...,AN},An为第n个延迟路径分析点,n的取值范围为1到N,N为延迟路径分析点总数,A1,A2,...,An,...,AN按照目标信号数据达到的先后顺序排列,An至An+1之间为目标信号数据对应的第n段延迟路径Rn,所有延迟路径组成目标信号数据对应的全路径,延迟路径分析点为目标信号数据所经过的接口; 步骤E42、调用所述芯片性能自动分析脚本,获取每一An对应的目标信号数据到达时间Tn; 步骤E43、将Tn+1与Tn的差值确定为Rn对应的延迟路径时间。
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