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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利基于磁光克尔效应的磁子空间成像扫描装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121069276B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511609437.X，技术领域涉及：G01R33/032；该发明授权基于磁光克尔效应的磁子空间成像扫描装置及方法是由秦华军;闫玮植;麻雨婷设计研发完成，并于2025-11-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于磁光克尔效应的磁子空间成像扫描装置及方法在说明书摘要公布了：本申请涉及磁学测量仪器技术领域，特别涉及一种基于磁光克尔效应的磁子空间成像扫描装置及方法。装置包括：发射组件，包括激光器、扩束镜、分束镜、反射镜、第一半波片、偏振分束立方、方解石偏振器、第一二向色镜、物镜、LED光发射部件、凸透镜和消色差双胶合透镜，以将入射光束聚焦于待测物品；扫描组件，包括第二二向色镜、第二半波片、反射镜、分束棱镜、直角反射棱镜、消色差双胶合透镜、光电平衡探测器、锁相放大器、磁场施加部件、压电位移台，以扫描待测物品；成像组件，包括凸透镜、CMOS相机和数据处理部件，以生成形貌图像和自旋波图像。本申请可以对自旋波和磁子频率梳进行高空间分辨、高磁灵敏度、宽频带的空间成像测量。

本发明授权基于磁光克尔效应的磁子空间成像扫描装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于磁光克尔效应的磁子空间成像扫描装置，其特征在于，包括： 发射组件，所述发射组件包括激光器、扩束镜、第一分束镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、第一半波片、偏振分束立方、第四反射镜、方解石偏振器、第一二向色镜、物镜、LED光发射部件、第一凸透镜、第二凸透镜、第十二反射镜和第一消色差双胶合透镜，以将入射光束聚焦于待测物品，其中，所述激光器发射飞秒激光作为探测光源； 扫描组件，所述扫描组件包括第二二向色镜、第二半波片、第六反射镜、第七反射镜、分束棱镜、第一直角反射棱镜、第二消色差双胶合透镜、第三消色差双胶合透镜、第八反射镜、第九反射镜、第十反射镜、第十一反射镜、第二直角反射棱镜、光电平衡探测器、锁相放大器、磁场施加部件、压电位移台，以扫描聚焦所述入射光束后的待测物品，得到扫描数据； 成像组件，所述成像组件包括第三凸透镜、CMOS相机和数据处理部件，用于根据所述扫描数据生成所述待测物品的形貌图像和自旋波图像； 其中，所述第一二向色镜和所述第二二向色镜表面镀有二向分光膜，以完成所述飞秒激光与LED光的选择性透射及反射；所述光电平衡探测器的光电二极管对称连接至所述锁相放大器的差分输入端，且所述锁相放大器的外部参考频率和射频信号源的外部参考频率同步； 其中，所述磁场施加部件用于向所述待测物品施加外磁场，通过同轴线以及射频探针连接所述射频信号源至所述待测物品上的微波天线，以激发所述待测物品中的自旋波。

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