北京航空航天大学王一娇获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于标准化流的半导体器件多参数联合分布建模方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120471008B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510552472.6，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权基于标准化流的半导体器件多参数联合分布建模方法是由王一娇;邹涛;石雯;王之毓;刘若彤;陈路帆;赵巍胜设计研发完成，并于2025-04-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于标准化流的半导体器件多参数联合分布建模方法在说明书摘要公布了：本公开提供了一种基于标准化流的半导体器件多参数联合分布建模方法，包括：S1:从半导体器件仿真数据中提取多种关键模型参数；S2:基于所述多种关键模型参数构建包含多个模型卡的原始模型库；S3:基于所述原始模型库对模型参数进行处理以构建训练数据集；S4:构建标准化流模型；以及S5:基于所构建的训练数据对标准化流模型进行训练生成得到包括大规模模型卡的完备模型库，完成半导体器件多参数联合分布建模。
本发明授权基于标准化流的半导体器件多参数联合分布建模方法在权利要求书中公布了：1.一种基于标准化流的半导体器件多参数联合分布建模方法，包括： S1:从半导体器件仿真数据中提取多种关键模型参数； S2:基于所述多种关键模型参数构建包含多个模型卡的原始模型库； S3:基于所述原始模型库对模型参数进行处理以构建训练数据集； S4:构建标准化流模型；以及 S5:基于所构建的训练数据对标准化流模型进行训练生成得到包括大规模模型卡的完备模型库，完成半导体器件多参数联合分布建模; 构建标准化流模型时采用耦合有理二次神经样条流作为基础架构，包括多层可逆变换序列，每层可逆变换序列包括耦合有理二次样条变换，LU分解的线性变换以及初始化基分布为对角高斯分布。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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