中国科学院半导体研究所杨旭获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利一种图像传感器的计数结果的校正方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115683329B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211330669.8，技术领域涉及：G01J1/44；该发明授权一种图像传感器的计数结果的校正方法和装置是由杨旭;刘力源;田娜;窦润江;吴南健设计研发完成，并于2022-10-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种图像传感器的计数结果的校正方法和装置在说明书摘要公布了：本公开提供了一种图像传感器的计数结果的校正方法，包括：针对每一个传感器像素，获取传感器像素的累加次数、探测效率和暗计数；根据累加次数获取传感器像素的计数结果的累加值；根据累加次数、探测效率和暗计数计算传感器像素的校正参数；根据累加值和校正参数计算传感器像素的已校正的计数结果；根据所有传感器像素的已校正的计数结果得到计数型图像传感器的已校正的计数结果。该方法对计数型图像传感器中的每一个传感器像素的计数结果均进行了校正，校正过程仅对非理想成像因素进行减除，不改变原有成像信息内容，去除了传感器像素阵列的不一致性，避免了对原始视觉成像信息造成畸变。
本发明授权一种图像传感器的计数结果的校正方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种图像传感器的计数结果的校正方法，其特征在于，适用于计数型图像传感器，所述计数型图像传感器上植入有至少一个传感器像素，所述传感器像素用于探测照射在所述像素上的光信号并用计数结果表示，所述方法包括： 针对每一个所述传感器像素，获取所述传感器像素的累加次数、探测效率和暗计数； 根据所述累加次数获取所述传感器像素的计数结果的累加值； 根据所述累加次数、所述探测效率和所述暗计数计算所述传感器像素的校正参数； 根据所述累加值和所述校正参数计算所述传感器像素的已校正的计数结果。
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