北京物芯科技有限责任公司路鹏程获国家专利权
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龙图腾网获悉北京物芯科技有限责任公司申请的专利随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115312114B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211111147.9,技术领域涉及:G11C29/56;该发明授权随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质是由路鹏程;史瑞瑞设计研发完成,并于2022-09-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了:本发明公开了一种随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质。方法包括:通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,存储至预设参数文档中;对各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号和参考模型进行存储;若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取对应的目标测试激励信号和目标参考模型进行测试。本发明实施例可以自动根据参数信息,获取用于触发随机存取存储器RAM测试的测试激励信号、用于模拟随机存取存储器RAM的参考模型,自动根据测试激励信号和参考模型进行测试。
本发明授权随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了:1.一种随机存取存储器RAM的测试方法,其特征在于,包括: 通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;其中,所述将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息指将参数信息中包含的参数的参数名称替换为与参数对应的预设字符串标识,所述预设字符串标识是预先设置的用于标识参数的字符串; 建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储; 建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储; 若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,将所述目标测试激励信号分别输入至所述被测随机存取存储器RAM和所述目标参考模型;获取所述被测随机存取存储器RAM基于所述目标测试激励信号的目标响应信号;对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果。
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