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艾迪科技(北京)有限公司时海涛获国家专利权

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龙图腾网获悉艾迪科技(北京)有限公司申请的专利一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114577347B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210121578.7,技术领域涉及:G01J5/53;该发明授权一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法是由时海涛;杨训敏;郦翀;牛雪雷;孙艺哲设计研发完成,并于2022-02-09向国家知识产权局提交的专利申请。

一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法。本发明首先将宽温度区间划分为不同温度子区间,然后在温度子区间内,用同一个积分时间进行不同温度下的成像,确保了该区间下的图像线性度,通过校正参数修正使图像在该温度区间下均匀。本发明解决了制冷红外热像仪随温度变化,非均匀性较差,图像输出质量不佳的问题,且校正数学模型简单,参数少,易于工程实现,为提高红外热像仪的温度分辨能力和图像质量提供了更好的支持。

本发明授权一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法在权利要求书中公布了:1.一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法,其特征在于,将制冷红外热像仪的工作环境温度范围划分为多个子区间;将制冷红外热像仪置于温箱中,分别在所述子区间内进行不同温度下的成像;其中,制冷红外热像仪采用相同的积分时间进行同一子区间内的成像;其中所述积分时间为该子区间低温下限对应的积分时间;根据子区间内的成像数据获得本子区间的校正参数; 制冷红外热像仪根据其工作环境温度,选择校正时对应子区间的积分时间进行成像,并采用该子区间的校正参数对成像结果进行校正; 将制冷红外热像仪的工作温度范围进行均分,得到多个子区间; 所述子区间的温差为20℃; 采用如下方式进行参数校正: 校正增益参数: 校正偏置参数: 校正后的图像为:Yi,j=Gi,j·Xi,j+Oi,j 其中i,j∈T,W,T,W分别为图像高度和宽度;Xi,j为图像的第i行第j列像元的像素值;下标L和H分别表示在温度L和温度H下的图像数据;表示图像的像素均值,Gi,j为增益参数,Oi,j为偏置参数,Yi,j为校正之后的图像。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人艾迪科技(北京)有限公司,其通讯地址为:100048 北京市海淀区西三环北路50号豪柏大厦C1座805室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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