科磊股份有限公司F·瓦伊达获国家专利权
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龙图腾网获悉科磊股份有限公司申请的专利具有一致MRAM裸片定向的MOKE计量的系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114144689B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080052828.5，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权具有一致MRAM裸片定向的MOKE计量的系统及方法是由F·瓦伊达设计研发完成，并于2020-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本具有一致MRAM裸片定向的MOKE计量的系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种计量工具，其包含用以产生磁场的磁铁及用以将多个MRAM裸片定位在所述磁场中的MRAM晶片上的载物台系统。所述载物台系统包含其上将要安装所述MRAM晶片的卡盘。所述计量工具进一步包含用以提供激光束且引导所述激光束以入射于经定位在所述磁场中的相应MRAM裸片上的光学器件。所述计量工具额外包含用以接收由所述相应MRAM裸片反射的所述激光束且测量所述反射激光束的偏振的旋转的检测器。所述计量工具可配置以为所述MRAM晶片上的每一MRAM裸片提供相对于所述激光束的所述偏振的共同定向。
本发明授权具有一致MRAM裸片定向的MOKE计量的系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种计量工具，其包括： 磁铁，其用以产生磁场； 载物台系统，其用以将磁性随机存取存储器MRAM晶片定位在所述磁场中，所述MRAM晶片包括多个MRAM裸片，所述载物台系统包括： 其上将要安装所述MRAM晶片的卡盘，所述卡盘可围绕旋转轴线旋转； 光学器件，其用以提供激光束且引导所述激光束以在所述MRAM晶片经定位在所述磁场中的情况下，入射于所述MRAM晶片上的所述多个MRAM裸片中的至少一个上，所述光学器件包括：用以产生所述激光束的激光器、用以使所述激光束偏振的偏振器；及 检测器，其用以接收由所述MRAM晶片上的所述多个MRAM裸片中的所述至少一个反射的所述激光束，且所述检测器经配置以根据所述激光器及所述偏振器的旋转而旋转以测量经反射的所述激光束的所述偏振的旋转以测量相对于入射激光束的偏振； 其中所述计量工具可配置以当所述激光束入射于所述多个MRAM裸片中的另一个MRAM裸片上时，旋转所述激光器及所述偏振器以提供相对于所述激光束的所述偏振的共同定向。
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