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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224051556U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520790663.1，技术领域涉及：G01M11/02；该实用新型一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置是由刘峰;徐亮;张玺斌;李晓辉;赵晋炜;张晓宁设计研发完成，并于2025-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置在说明书摘要公布了：本实用新型提出了一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置，包括光源生成系统、光源三维调整系统、调整载物台系统、光斑探测器系统和光斑探测三维调整系统；光源生成系统设置在光源三维调整系统上；调整载物台系统设置在光源三维调整系统和光斑探测三维调整系统之间，用于安装被测光学系统以及对被测光学系统进行方位和俯仰角度调整；光斑探测器系统设置在光斑探测三维调整系统上。本实用新型一种基于星点法的光学系统入瞳直径和位置测量装置，将被测光学系统入瞳直径转化为同等口径的平行光束，该光束向被测光学系统物方无限传输，可通过探测器方便接收，通过平移台的平移可直接得到被测光学系统的入瞳直径。

本实用新型一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置在权利要求书中公布了：1.一种基于星点法的变焦光学系统入瞳直径和位置测量装置，其特征在于： 包括光源生成系统I、光源三维调整系统II、调整载物台系统III、光斑探测器系统IV和光斑探测三维调整系统V； 所述光源生成系统I设置在光源三维调整系统II上；所述调整载物台系统III设置在光源三维调整系统II和光斑探测三维调整系统V之间，用于安装被测光学系统以及对被测光学系统进行方位和俯仰角度调整；所述光斑探测器系统IV设置在光斑探测三维调整系统V上；所述光源三维调整系统II、调整载物台系统III以及光斑探测三维调整系统V用于调整光源生成系统I、光斑探测器系统IV均与被测光学系统位于同一光路上； 所述光源生成系统I用于设置在被测光学系统像方焦平面处，光源生成系统I发出星点光源并发射至被测光学系统的出射端，光线经被测光学系统后从其入射端射出； 所述光斑探测器系统IV用于设置在被测光学系统物方，接收从被测光学系统入射端射出的光线，并在其探测面上形成光斑。

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