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龙图腾网获悉厦门理工学院申请的专利一种基于多探测脉冲型φ-OTDR的GIS金属微粒缺陷分布式检测系统及其检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121558627B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610084593.7，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权一种基于多探测脉冲型φ-OTDR的GIS金属微粒缺陷分布式检测系统及其检测方法是由周宏扬;程佳文;任政宇;田洪设计研发完成，并于2026-01-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于多探测脉冲型φ-OTDR的GIS金属微粒缺陷分布式检测系统及其检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及金属缺陷检测技术领域，特别涉及一种基于多探测脉冲型φ‑OTDR的GIS金属微粒缺陷分布式检测系统，包括：窄线宽激光器、第一耦合器、第一声光调制器、第一掺铒光纤放大器、循环移频环路、环形器，第三耦合器、平衡光电探测器及示波器；循环移频环路用于对经第一掺铒光纤放大器放大的脉冲光进行移频并划分为n个互不同频的探测光脉冲，探测光脉冲均匀分布在第一掺铒光纤放大器输出的2次脉冲光之间。本发明提供的基于多探测脉冲型φ‑OTDR的GIS金属微粒缺陷分布式检测系统通过循环移频环路将原本一个脉冲光扩展为多个频率不同的探测光脉冲，无需考虑瑞利散射光混叠问题，解决了光脉冲频率与传感光纤长度不可兼得的矛盾，提高检测精度。

本发明授权一种基于多探测脉冲型φ-OTDR的GIS金属微粒缺陷分布式检测系统及其检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于多探测脉冲型φ-OTDR的GIS金属微粒缺陷分布式检测系统，用于检测GIS腔室中的声振动信号，其特征在于，包括： 窄线宽激光器11，用于发出窄线宽激光； 第一耦合器12，与所述窄线宽激光器11的输出端连接，用于将所述窄线宽激光划分为本征光及信号光； 第一声光调制器13，用于接收由所述第一耦合器12传来的所述信号光，并将所述信号光进行移频调制为频率为fpulse的脉冲光； 第一掺铒光纤放大器14，与所述第一声光调制器13的输出端连通，用于将所述脉冲光进行放大； 循环移频环路15，与所述第一掺铒光纤放大器14的输出端连通，用于对经所述第一掺铒光纤放大器14放大的所述脉冲光进行移频并划分为n个互不同频的探测光脉冲，所述探测光脉冲均匀分布在所述第一掺铒光纤放大器14输出的2次所述脉冲光之间； 环形器16，第一端与所述循环移频环路15连通，第二端与传感光纤17连通，并通过第三端与第三耦合器18连通，所述探测光脉冲在所述传感光纤17内在声振动信号作用下形成瑞利散射光； 第三耦合器18，同时接收由所述第一耦合器12输送来的所述本征光及所述环形器16输送来的瑞利散射光，使所述本征光与所述瑞利散射光在所述第三耦合器18内发生干涉后输出； 平衡光电探测器19，与所述第三耦合器18的输出端连通，对所述第三耦合器18输出的光信号进行光电转换； 示波器20，与所述平衡光电探测器19的输出端连接，对所述平衡光电探测器19输送来的电信号进行检测并存储； 所述循环移频环路15包括第二耦合器151、第二声光调制器152、第二掺铒光纤放大器153及延迟光纤154，所述第二耦合器151与所述第一掺铒光纤放大器14连通，将所述第一掺铒光纤放大器14输送来的所述脉冲光均分后分别输送至所述环形器16或所述第二声光调制器152中；所述第二声光调制器152的输出端与所述第二掺铒光纤放大器153连通，所述第二掺铒光纤放大器153的输出端与所述延迟光纤154连通，所述延迟光纤154与所述第二耦合器151的输入端连通；输送入向所述第二声光调制器152的脉冲光先后经所述第二声光调制器152移频、所述第二掺铒光纤放大器153放大及所述延迟光纤154调整时域分布后重新进入所述第二耦合器151内进行循环。

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