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龙图腾网获悉上海第二工业大学申请的专利一种基于图像识别的贵金属质量缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121545021B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610077776.6，技术领域涉及：G06V10/98；该发明授权一种基于图像识别的贵金属质量缺陷检测方法是由王继芬;陈宇航;田吾旭;周全法设计研发完成，并于2026-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于图像识别的贵金属质量缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及图像识别技术领域，具体涉及一种基于图像识别的贵金属质量缺陷检测方法；根据所有检测图像中同一像素点处的灰度特征获得像素点的灰度表征值；根据像素点与多个正常贵金属在同一位置处的灰度表征值的差异特征获得像素点的亮度偏差程度；根据所有像素点的亮度偏差程度获取不同的疑似缺陷区域；根据疑似缺陷区域中像素点的灰度表征值的分布特征和梯度幅值的分布特征获得疑似缺陷区域的缺陷置信度。本发明根据疑似缺陷区域的缺陷置信度对待检测的贵金属进行缺陷检测，提高了贵金属表面缺陷检测的准确性。

本发明授权一种基于图像识别的贵金属质量缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于图像识别的贵金属质量缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 获取待检测的贵金属在不同光照角度下的检测图像； 根据所有检测图像中同一像素点处的灰度特征获得所述像素点的灰度表征值；根据所述像素点与多个正常贵金属在同一位置处的灰度表征值的差异特征获得所述像素点的亮度偏差程度； 根据所有像素点的亮度偏差程度获取不同的疑似缺陷区域；根据所述疑似缺陷区域中像素点的灰度表征值的分布特征和梯度幅值的分布特征获得所述疑似缺陷区域的缺陷置信度； 根据所述疑似缺陷区域的缺陷置信度对所述待检测的贵金属进行缺陷检测； 所述根据所有像素点的亮度偏差程度获取不同的疑似缺陷区域的步骤包括： 将所述亮度偏差程度超过预设阈值的像素点作为目标像素点；对所述目标像素点进行掩膜和图像闭运算，将闭运算后各个连通区域作为不同的疑似缺陷区域； 所述根据所述疑似缺陷区域中像素点的灰度表征值的分布特征和梯度幅值的分布特征获得所述疑似缺陷区域的缺陷置信度的步骤包括： ， 式中，R表示疑似缺陷区域的缺陷置信度，表示预设第一权重，表示预设第二权重，m表示疑似缺陷区域内所有像素点的灰度表征值的平均值，表示灰度上限值，表示灰度置信度，表示梯度上限值，g表示疑似缺陷区域内所有像素点的梯度幅值的平均值，表示梯度置信度。

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