买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国核动力研究设计院申请的专利一种基于SIMS的裂变核素Zr定量分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121385007B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511926847.7，技术领域涉及：G01N23/2258；该发明授权一种基于SIMS的裂变核素Zr定量分析方法是由彭涛;斯嘉轩;吴璐;滕常青;张伟;方忠强;孔祥刚;毛建军;黄子恒;杨帆设计研发完成，并于2025-12-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于SIMS的裂变核素Zr定量分析方法在说明书摘要公布了：本发明属于核燃料及材料的辐照效应技术领域，具体涉及一种基于SIMS的裂变核素Zr定量分析方法。包括步骤：CeO2样品表面的裂变核素90Zr+离子注入、离子注入后CeO2样品表面的镀膜处理、SIMS分析参数的优化调节、CeO2样品中裂变核素90Zr的深度剖析及浓度标定。该方法可快速测试并获得裂变核素90Zr在CeO2模拟燃料深度方向上的浓度分布、相对灵敏度因子和检测限；可用于辐照后的核燃料中裂变核素Zr的表征分析，结合已获得的90Zr的相对灵敏度因子，对辐照后的核燃料不同径向位置的裂变核素Zr的二次离子强度随深度变化曲线进行浓度标定，从而得到辐照后的核燃料中裂变核素90Zr沿径向的浓度分布。

本发明授权一种基于SIMS的裂变核素Zr定量分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于SIMS的裂变核素Zr定量分析方法，其特征在于，所述方法包括： 1采用离子加速器对CeO2模拟燃料样品表面注入90Zr+离子； 2在90Zr+离子注入的CeO2样品表面均匀地镀上一层金或铂的薄层； 3将SiTa标样和90Zr+离子注入的CeO2样品装入SIMS的样品架中，将样品架装入样品分析室，采用第一一次束流在SiTa标样上优化调节SIMS的二次光路和一次光路，调节并设置第二一次束流、对比光圈、场光圈、最大分析面积、扫描面积、能量狭缝参数，并对探测器电子倍增器和法拉第杯进行校准； 4在CeO2样品上通过调节L4透镜及消像散器，使一次离子束聚焦，减少像散；移动磁场找到90Zr的二次离子信号，然后对能量狭缝的位置进行校准，使90Zr的二次离子信号强度最大，并对偏转板进行校准； 5通过自动扫描方式对CeO2样品表面注入的裂变核素90Zr和基体元素140Ce进行磁场校准，消除其他单原子离子或原子团离子对90Zr的质谱干扰，然后对90Zr进行深度剖析，采用电子倍增器收集90Zr的二次离子信号，90Zr的深度剖析结束后对140Ce元素进行深度剖析，采用法拉第杯收集140Ce元素的二次离子信号，得到裂变核素90Zr的二次离子强度随溅射时间的变化曲线； 6根据裂变核素90Zr峰值浓度对应的深度，对90Zr的二次离子强度随溅射时间的变化曲线进行深度标定，获得90Zr的二次离子强度随溅射深度的变化曲线，以140Ce元素的二次离子强度为参考，根据90Zr+离子的注入剂量，对90Zr的二次离子强度随溅射深度的变化曲线进行浓度标定，得到裂变核素90Zr的浓度随溅射深度的变化曲线，即沿CeO样品深度方向上的浓度分布、相对灵敏度因子及检测限。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国核动力研究设计院，其通讯地址为：610213 四川省成都市双流区长顺大道1段328号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。