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龙图腾网获悉陇芯微(西安)电子科技有限公司申请的专利用于半导体T2T流程的塑封体表面缺陷检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121298748B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511864036.9，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权用于半导体T2T流程的塑封体表面缺陷检测系统是由王杰;牛露;李涵伟;王硕;李浩东;邱文飞;张浩伟设计研发完成，并于2025-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于半导体T2T流程的塑封体表面缺陷检测系统在说明书摘要公布了：本发明涉及塑封体加工技术领域，且公开了用于半导体T2T流程的塑封体表面缺陷检测系统，采集塑封体表面初始图像分析当前塑封体的表面类型、判定场景，基于表面特性识别分析判定的结果匹配照明模式，对塑封体表面进行全覆盖采集生成完整的塑封体表面全景图像，计算几何特征指数、灰度特征指数、纹理特征指数并与对应阈值进行对比，判定当前的塑封体是否合格，并将检测结果上传至T2T流程MES系统进行保存，同时针对不合格的塑封体发送位置信号给机械手进行不合格品剔除，突破了传统检测对表面特性与对比度场景无差异化判断的局限，彻底解决了多数检测依赖单一常规光源、未按表面特性适配照明的问题，最终实现缺陷检测精度与流程自动化的双重提升。

本发明授权用于半导体T2T流程的塑封体表面缺陷检测系统在权利要求书中公布了：1.用于半导体T2T流程的塑封体表面缺陷检测系统，其特征在于，包括建立表面特性识别模块，所述表面特性识别模块用于通过前置辅助相机采集塑封体表面初始图像，并基于初始图像的图像灰度分布、纹理频率，进行分析当前塑封体的表面类型是光泽型还是带纹理型，同时判定是否为低对比度缺陷场景； 建立照明模式匹配模块，所述照明模式匹配模块用于基于表面特性识别模块分析判定的结果匹配照明模式； 所述匹配照明模式具体为： 针对光泽型+正常对比度场景：匹配同轴冷光源，以0°垂直光路照射； 针对光泽型+低对比度场景：匹配同轴光源+环形补光组合模式； 针对带纹理型+正常对比度场景：匹配多方向条形漫反射光源，以45°交叉照射方式形成均匀漫射场； 针对带纹理型+低对比度场景：在多方向条形漫反射光源基础上增加偏振滤镜； 建立图像采集模块，所述图像采集模块用于通过主检测相机，对塑封体表面进行全覆盖采集，生成完整的塑封体表面全景图像； 建立缺陷检测模块，所述缺陷检测模块用于基于塑封体表面全景图像，进行计算几何特征指数、灰度特征指数、纹理特征指数： 建立分析输出模块，所述分析输出模块用于基于几何特征指数、灰度特征指数、纹理特征指数与几何特征指数阈值、灰度特征指数阈值、纹理特征指数阈值进行对比，判定当前的塑封体是否合格，并将检测结果上传至T2T流程MES系统进行保存，同时针对不合格的塑封体发送位置信号给机械手进行不合格品剔除。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人陇芯微(西安)电子科技有限公司，其通讯地址为：710018 陕西省西安市经济技术开发区高铁新城尚稷路与草滩九路十字远望谷(西安)物联网产业基地A7-2栋；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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