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龙图腾网获悉安徽大学申请的专利一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121207039B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511647745.1，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法是由蒯雁;陈祎珑;郑安南;张婷蕙;刘珊设计研发完成，并于2025-11-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法，属于纳米颗粒的光学检测与成像技术领域，两个激光器输出的激光经各自透镜组准直、扩束并空间滤波后被二向色镜合束。合束后的光被透镜汇聚，穿过分束镜到达放置在垂直升降位移台上的物镜焦面，并以宽场照明形式照明样品。样品颗粒的散射光与反射光经物镜收集后穿过分束镜和二向色镜按波长被分离成两束光，各自被收集系统收集成像。本发明采用的双波长干涉散射显微镜系统可以有效提高观测颗粒轴向位置信号的精度和测量范围，同时具备大视场、高灵敏度、装置简单易兼容等优势。

本发明授权一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置，包括光源模块、探测光路模块、成像模块以及调控和处理模块；其特征在于：所述光源模块产生并合束两个不同波长的水平出射激光，在探测光路模块实现对样品的宽场照明，样品颗粒的散射光与基底反射光经过探测光路模块的物镜18收集后，通过成像模块进行干涉成像；调控和处理模块采集与处理图像，得到颗粒干涉散射信号； 所述光源模块包括一路依次设置的单波长激光器A1、准直透镜A3、扩束第一透镜A5、空间滤波器A7和扩束第二透镜A9，另一路依次设置的单波长激光器B2、准直透镜B4、扩束第一透镜B6、空间滤波器B8和扩束第二透镜B10，以及将扩束第二透镜A9与扩束第二透镜B10输出的平行偏振光进行合束处理的第一二向色镜11； 所述成像模块包括第二二向色镜26、收集第一透镜A21、CMOS相机A25、收集第一透镜B27和CMOS相机B31；经过分束镜16后的光进入第二二向色镜26被分离为两束独立的色光，一束色光进入收集第一透镜A21后被CMOS相机A25收集，另一束色光进入收集第一透镜B27后被CMOS相机B31收集，得到两个波长下被检测样品颗粒的散射光与基底表面的反射光干涉成像的结果； 所述探测光路模块包括依次设置的第一反射镜12、可变光阑13、照明透镜14、第二反射镜15、分束镜16、垂直升降位移台17、物镜18和样品台；所述样品台由粗调样品台19、压电位移台20两部分构成，压电位移台20固定在粗调样品台19上方，压电位移台20的基底上设有被检测样品颗粒； 合束后的光经过第一反射镜12反射后依次进入可变光阑13被照明透镜14汇聚，再经过第二反射镜15垂直向上传播进入分束镜16，透射光经过放置物镜18的垂直升降位移台17汇聚在物镜18后焦面，经过物镜18后产生平行宽场光斑照明放置在粗调样品台19和压电位移台20上的样品。

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