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龙图腾网获悉昆明理工大学申请的专利一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120953202B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511049199.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法及装置是由李丽霞;陈祥浩设计研发完成，并于2025-07-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法及装置在说明书摘要公布了：本发明属于农产品加工及无损检测技术领域，提出了一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法及装置，方法包括：采集核桃样本的X射线图像并进行预处理；将图像输入深度学习实例分割模型获得图像中所有核桃果仁结构块的分割掩膜；根据图像中所有核桃果仁结构块的分割掩膜确定核桃果仁的结构特征参数；根据结构特征参数构建线性加权的结构损伤模型；根据结构特征参数确定第一加权系数和第二加权系数；将第一加权系数和第二加权系数带入线性加权的结构损伤模型确定核桃样本的最终损伤度。本发明通过X射线成像技术对核桃破壳后的果仁结构进行非接触式内部成像，避免了传统方法中因施加机械力或破坏性处理所带来的二次损伤问题。

本发明授权一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法，其特征在于，包括： 采集核桃样本的X射线图像并进行预处理； 将预处理后的图像输入深度学习实例分割模型获得图像中所有核桃果仁结构块的分割掩膜； 根据图像中所有核桃果仁结构块的分割掩膜确定核桃果仁的结构特征参数，所述结构特征参数包括主结构完整性系数和相对碎裂度； 根据所述主结构完整性系数和所述相对碎裂度构建线性加权的结构损伤模型； 根据所述主结构完整性系数和所述相对碎裂度确定第一加权系数和第二加权系数； 将所述第一加权系数和所述第二加权系数带入所述线性加权的结构损伤模型确定核桃样本的最终损伤度； 所述主结构完整性系数如下： 其中，为主结构完整性系数，为核桃样本的X射线图像最大结构区域面积，为核桃样本的X射线图像所有区域面积总和； 所述相对碎裂度如下： 其中，为相对碎裂度，为核桃样本的X射线图像分割得到的结构块数，为完整核桃果仁的标准结构块数，即 根据所述主结构完整性系数和所述相对碎裂度确定第一加权系数和第二加权系数包括： 采用主成分分析法对主结构完整性系数反向量和相对碎裂度S进行标准化处理，提取第一主成分对应的特征向量，并根据其绝对值进行归一化，确定第一加权系数和第二加权系数。

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