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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116067944B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310193425.8，技术领域涉及：G01N21/71；该发明授权一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法是由张大成;余明昊;侯佳佳;巴雨璐;张雷;张子旭设计研发完成，并于2023-03-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法，所述装置包括：第二分光片用于对第一可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第一光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜；第三分光片用于对经过第二反射镜后的第二可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第二光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜；第一光电探测器和第二光电探测器分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度；第三光电探测器和第四光电探测器分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度。本发明极大提高了同位素比测量精度，且无需激光波长扫描、无需标定即可实现对同位素比的快速直接测量。

本发明授权一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置，其特征在于，包括： 纳秒泵浦激光器，用于将其产生的激光分别经第一分光片和第一反射镜同时泵浦第一可调谐激光器和第二可调谐激光器，产生两束可调谐激光，分别记为第一可调谐激光和第二可调谐激光； 第一半波片和第二半波片，用于使第一可调谐激光和第二可调谐激光的偏振态相互垂直； 第二分光片，用于对第一可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第一光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜； 第三分光片，用于对经过第二反射镜后的第二可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第二光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜； 第一光电探测器和第二光电探测器，分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度； 第一偏振分束棱镜，用于将进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光合束为一束共线激光束； 第二偏振分束棱镜，用于将在待测样品表面上方区域穿过等离子体羽流区后的共线激光束进行分离，分别得到分离后的第一可调谐激光和第二可调谐激光合束； 第三光电探测器和第四光电探测器，分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的剩余强度； 还包括数据处理装置； 所述数据处理装置用于根据所述第三光电探测器测量第一可调谐激光的剩余强度和第一光电探测器测量的第一可调谐激光的原始强度的差值，以及所述第四光电探测器测量第二可调谐激光的剩余强度和第二光电探测器测量的第二可调谐激光的原始强度的差值，由激光强度差值比获取所述待测样品中目标元素的两种同位素的比值； 所述第一可调谐激光器和所述第二可调谐激光器可采用不同刻线的光栅获得不同线宽激光输出；其中，输出的激光的线宽分别与所述待测样品中目标元素的两种同位素的谱线宽度与能级超精细结构匹配。

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