上海积塔半导体有限公司刘倩倩获国家专利权
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龙图腾网获悉上海积塔半导体有限公司申请的专利电阻测试结构及其测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116008659B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211498892.3,技术领域涉及:G01R27/02;该发明授权电阻测试结构及其测试方法是由刘倩倩;宋永梁设计研发完成,并于2022-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本电阻测试结构及其测试方法在说明书摘要公布了:本申请涉及一种电阻测试结构及其测试方法,包括:分流电阻,用于与待测电阻并联,形成并联电路;供电电极,连接并联电路的输入端,用于提供测试电流;量测电极,用于对并联电路进行电压量测。在本申请中,应用分流电阻R2进行分流,从而使得流经待测电阻R1的电流减小,从而降低测试功率,进而可以使得量测电极可以对相关电压进行有效量测,且根据量测的电压以及供电电极提供的测试电流可以有效计算待测电阻R1的阻值。因此,本申请通过分流电阻R2、供电电极以及量测电极的设置,可以有效且精确的计算出待测电阻R1的阻值,进而完成对待测电阻R1的量测。
本发明授权电阻测试结构及其测试方法在权利要求书中公布了:1.一种电阻测试结构,用于测量待测电阻阻值,其特征在于,包括: 分流电阻,用于与所述待测电阻并联,形成并联电路; 供电电极,连接所述并联电路的输入端,用于提供测试电流; 量测电极,用于对所述并联电路进行电压量测,所述量测电极包括:第二电极,连接所述并联电路的输入端;接地电极,连接所述待测电阻以及所述分流电阻的输出端;第三电极,连接所述接地电极与所述分流电阻之间的走线上,根据所述第三电极与所述接地电极间的差值,可以获取所述第三电极与所述接地电极二者之间的第一寄生电阻的电压值;第六电极,连接所述接地电极与所述待测电阻之间的走线上,根据所述第六电极与所述接地电极间的差值,可以获取所述第六电极与接地电极二者之间的第二寄生电阻的电压值;所述供电电极配置为提供两个不同的测试电流,并基于各次测试中获得的第一电压、第二电压、第三电压、第四电压以及对应的测试电流,联合求解所述待测电阻的阻值。
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