中国科学院半导体研究所王洪昌获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利基于混合高斯模型的目标检测方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115909209B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211527695.X，技术领域涉及：G06V20/52；该发明授权基于混合高斯模型的目标检测方法、装置及设备是由王洪昌;鲁华祥;鉴海防设计研发完成，并于2022-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于混合高斯模型的目标检测方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于混合高斯模型的目标检测方法、装置及设备，可以应用于计算机视觉领域及数字图像处理领域。该基于混合高斯模型的目标检测方法包括：对包括待检测目标的目标图像进行处理，得到与待检测目标相关的第一密度图，其中，第一密度图符合混合高斯分布，第一密度图作为混合高斯模型；对第一密度图进行积分处理，得到待检测目标的第一数量值；对第一密度图进行局部峰值提取，得到待检测目标的第二数量值；基于第一数量值、第二数量值及第一密度图，得到待检测目标的目标均值和目标方差；根据目标均值和目标方差确定待检测目标的位置信息。
本发明授权基于混合高斯模型的目标检测方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于混合高斯模型的目标检测方法，包括： 对包括待检测目标的目标图像进行处理，得到与所述待检测目标相关的第一密度图，其中，所述第一密度图符合混合高斯分布； 对所述第一密度图进行积分处理，得到所述待检测目标的第一数量值； 对所述第一密度图进行局部峰值提取，得到所述待检测目标的第二数量值； 从第二密度图中随机抽取一组数量为所述第一数量值的第一数据，其中，所述第二密度图是通过对所述第一密度图进行滤波得到的； 利用混合高斯模型解析算法对所述第一数据进行处理，得到第一均值与第一方差； 在所述第一方差符合预设条件的情况下，将所述第一均值作为目标均值，将所述第一方差作为目标方差； 在所述第一方差不符合预设条件的情况下，基于所述第二数量值及所述第二密度图，得到所述待检测目标的目标均值及目标方差； 根据所述目标均值和所述目标方差确定所述待检测目标的位置信息。
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