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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种高能宇宙射线探测用MCP寿命测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115903004B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211544385.9，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种高能宇宙射线探测用MCP寿命测试方法及系统是由郑锦坤;王博;白永林;曹伟伟;秦君军;白晓红;高佳锐;梁晓祯设计研发完成，并于2022-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高能宇宙射线探测用MCP寿命测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种高能宇宙射线探测用MCP寿命测试方法及系统，用于解决目前通过标记像增强器的输出亮度增益变化来评估MCP寿命的方法容易产生系统误差的技术问题。本发明的测试方法为：将电子阴极、待测MCP样品以及阳极板依次置于高真空管内，将可调光阑和高真空管依次设置在高能量光源入射光路上；关闭可调光阑，打开高能量光源并对其进行标定；依次在阳极板、待测MCP样品及电子阴极上依次施加高压电场；对可调光阑的位置和孔径大小进行调节；电子依次经待测MCP样品和阳极板进行电子倍增和电子收集后，阳极板输出电流；检测阳极板的输出电流，并以激光强度最大值为基准，将测量区间内的激光强度做归一化处理；获得待测MCP样品的寿命。

本发明授权一种高能宇宙射线探测用MCP寿命测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种高能宇宙射线探测用MCP寿命测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 1]将电子阴极4、待测MCP样品5以及阳极板6依次置于整体封闭的高真空管内，且使待测MCP样品5和电子阴极4之间、待测MCP样品5和阳极板6之间设置有间隙；并将可调光阑3和高真空管依次设置在高能量光源的入射光路上；所述高能量光源的脉冲宽度为10-100ns、功率大于3W，其轰击到电子阴极4的电子能量为1eV-15eV； 2]关闭可调光阑3，打开高能量光源，对高能量光源的谱线和强度进行标定； 3]按顺序分别在阳极板6、待测MCP样品5以及电子阴极4上依次施加相应的高压电场，使器件处于工作状态； 4]根据待测MCP样品5的待测位置和大小对可调光阑3的位置和孔径大小进行调节，使电子阴极4接收到光子后在电场作用下输出电流密度为10-9Acm2量级的电子；电子依次经待测MCP样品5和阳极板6进行电子倍增和电子收集后，阳极板6输出电流； 5]检测阳极板6的输出电流，并以激光强度最大值为基准，将测量区间内的激光强度做归一化处理；通过下式获得待测MCP样品5的寿命MCPlife： 其中，Qn表示阳极板6收集到的电荷总量；Sin表示激光入射电子阴极4的面积；i表示瞬间在阳极板6产生的电流；Q0表示初始状态下阳极板6的电荷总量；fI,t表示激光强度归一化函数；r表示可调光阑3的当前通光孔径。

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