中国科学院光电技术研究所李子铭获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利地表层自适应光学对大气湍流分层校正能力的评价方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115824430B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211640931.9，技术领域涉及：G01J9/00；该发明授权地表层自适应光学对大气湍流分层校正能力的评价方法是由李子铭;杨颖;张兰强;饶长辉设计研发完成，并于2022-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本地表层自适应光学对大气湍流分层校正能力的评价方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种地表层自适应光学对大气湍流分层校正能力的评价方法。该方法包括：根据GLAO对大气湍流校正需要，获取经过GLAO系统校正后的波前相位统计信息；从望远镜系统获得未经过自适应光学系统校正的波前畸变相位统计信息；通过校正前后波前相位统计信息的变化来获得GLAO层校正效率。利用本发明，可以评价GLAO对大气湍流分层校正能力，确定GLAO系统自身有效校正高度范围，优化大视场GLAO系统的校正性能。
本发明授权地表层自适应光学对大气湍流分层校正能力的评价方法在权利要求书中公布了：1.一种地表层自适应光学对大气湍流分层校正能力的评价方法，其特征在于，所述方法通过定义GLAO对不同层高大气湍流的校正效率，实现评价GLAO对大气湍流分层校正能力，该方法包括如下步骤： 步骤1：根据GLAO对大气湍流校正需要，获取经过GLAO系统校正后的波前相位统计信息； 步骤2：从望远镜系统获得未经过自适应光学系统校正的波前畸变相位统计信息； 步骤3：通过校正前后波前相位统计信息的变化来获得GLAO层校正效率； 所述的GLAO层校正效率形式如下： 1 其中，为特定湍流层经过GLAO系统校正后的波前相位统计信息，为特定湍流层未经过自适应光学系统校正后的波前畸变相位统计信息，GLAO层校正效率不受成像波长和湍流强度与分布的影响，取决于GLAO系统自身对特定层湍流的校正能力。
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