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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115753877B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211364046.2，技术领域涉及：G01N25/20；该发明授权基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法及装置是由苏金龙;李红娟;胡飞;朱冬设计研发完成，并于2022-11-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法及装置，属于无源微波毫米波遥感与探测技术领域。方法包括准备相同物理温度的黑体材料和目标材料；构建均匀辐射环境，用辐射计对黑体进行测量，得到电压测量值VAbb；将金属板和目标材料先后放置在黑体表面相同位置，测得对应的辐射电压VAmetal和VAtarget；利用VAtarget、VAmetal、VAbb进行差值分析，得到目标材料发射率和透射率之和；先后用两种强度的辐射源仅对目标材料进行照射，测得辐射电压分别为V1和V2；单独对该两种辐射源进行测量，得到辐射电压分别为V3和V4；利用V1、V2、V3和V4差值分析，得到目标材料透射率。本发明可消除目标所占空间立体角带来的测量误差，实现对透波材料发射率、透射率精确测量。

本发明授权基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 1将目标材料和相同尺寸的黑体材料置于同一温度环境下，使得目标材料和黑体材料的物理温度相同； 2构建均匀辐射环境，环境辐射亮温与黑体材料及目标材料的物理温度不同； 3将黑体材料固定，用辐射计对固定的黑体材料进行测量，得到电压测量值VAbb； 4将相同尺寸金属板和目标材料先后放置在黑体材料表面相同位置，在相同极化方式和相同观测角下测得一一对应的辐射电压VAmetal和VAtarget； 5利用VAtarget、VAmetal、VAbb进行差值分析，得到目标材料发射率和透射率之和； 6取下黑体材料，将目标材料固定，调节辐射源，先后用第一辐射源和第二辐射源对固定的目标材料进行照射，通过调整辐射源到地面的高度，使得辐射源、目标中心与天线主波束中心保持在同一条直线上，测得目标材料的辐射电压分别为V1和V2； 7取下目标材料，单独对第一辐射源和第二辐射源进行测量，得到辐射电压分别为V3和V4； 8利用V1、V2、V3和V4进行差值分析，得到目标材料的透射率。

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