长鑫存储技术有限公司朱皖江获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利失效单元测试方法及装置、存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115565592B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211203608.5，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权失效单元测试方法及装置、存储介质及电子设备是由朱皖江;黄建钦设计研发完成，并于2022-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本失效单元测试方法及装置、存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本公开是关于一种失效单元测试方法、失效单元测试装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该失效单元测试方法包括：向存储器的存储阵列中写入测试数据；向存储器发送目标字线跳变指令，以控制存储阵列打开目标字线周边的字线；向存储器发送刷新指令，以控制存储阵列对目标字线周边的字线执行刷新操作；读取目标字线中的数据，并将读取的数据与目标字线中写入的测试数据进行比较，以确定存储阵列中的失效单元。提供了一种有效检测失效单元的测试方法。
本发明授权失效单元测试方法及装置、存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种失效单元测试方法，其特征在于，所述方法包括： 向存储器的存储阵列中写入测试数据； 向所述存储器发送目标字线跳变指令，以控制所述存储阵列打开所述目标字线周边的字线； 向所述存储器发送刷新指令，以控制所述存储阵列对所述目标字线周边的字线执行刷新操作； 读取所述目标字线中的数据，并将读取的数据与所述目标字线中写入的所述测试数据进行比较，以确定所述存储阵列中的失效单元。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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