中国科学院长春光学精密机械与物理研究所张航获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于长波红外探测器的长波红外谱段背景辐射消除方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115560853B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211259869.9,技术领域涉及:G01J3/28;该发明授权基于长波红外探测器的长波红外谱段背景辐射消除方法及系统是由张航;李帅;郑玉权设计研发完成,并于2022-10-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于长波红外探测器的长波红外谱段背景辐射消除方法及系统在说明书摘要公布了:本申请提供的基于长波红外探测器的长波红外谱段背景辐射消除方法及系统,首先获取长波红外探测器一定帧数的所有像元暗背景实测值及对应时刻的焦平面温度,拟合暗背景实测值以及焦平面温度之间的关系,每个像元得到一组拟合系数,通过每个像元的拟合系数以及焦平面实时温度,即可计算得到不同像元当前帧的暗背景估算值,并将暗背景估算值从入射信号中去除,可有效消除长波红外系统背景辐射的影响。上述方法及系统,构建所有像元背景辐射与焦平面温度之间的关系,从背景辐射的本质上计算不同像元的暗背景,减少中间环节意味着消除了暗像元非均匀性的影响以及传递的误差,有效提高计算的准确性,同时避免人为定义的暗像元而浪费探测器资源。
本发明授权基于长波红外探测器的长波红外谱段背景辐射消除方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于长波红外探测器的长波红外谱段背景辐射消除方法,其特征在于,包括下述步骤: 在暗场环境下,获取所述长波红外探测器若干帧所有像元的暗背景实测值及所述长波红外探测器若干帧对应时刻的焦平面实时温度; 拟合获取的若干帧所有像元暗背景实测值和对应时刻的焦平面实时温度之间的关系; 获取每个像元的一组拟合系数; 根据所述拟合系数以及所述焦平面实时温度,计算得到不同像元当前帧的暗背景估算值,并将所述暗背景估算值从入射信号中去除即可消除背景辐射的影响; 在暗场环境下,获取所述长波红外探测器若干帧所有像元的暗背景实测值及所述长波红外探测器若干帧对应时刻的焦平面实时温度的步骤中,具体包括下述步骤: 将所述长波红外探测器置于全暗的环境中,用冷光屏屏蔽目标辐射能量进入所述长波红外探测器,所述长波红外探测器获取像元暗背景的实测值; 在获取所述长波红外探测器若干帧所有像元的暗背景实测值及所述长波红外探测器若干帧对应时刻的焦平面实时温度的步骤中,具体包括下述步骤:采用恒流源加测温二极管的方式,搭配32位高精度ADC,分别获取所述长波红外探测器若干帧所有像元的暗背景实测值及所述长波红外探测器若干帧对应时刻的焦平面实时温度,并多次采样做平均值; 在拟合获取的若干帧所有像元暗背景实测值和对应时刻的焦平面实时温度之间的关系的步骤中,具体包括下述步骤: 将获取的所有像元暗背景实测值和对应时刻的焦平面温度,采用不同的拟合模型,拟合像元暗背景与焦平面温度之间的关系,目标是使残差最小,所述拟合模型包括多项式拟合、指数拟合以及线性拟合。
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