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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于影响函数的残余应力分布重构方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115512790B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211112167.8，技术领域涉及：G16C60/00；该发明授权一种基于影响函数的残余应力分布重构方法是由张桢;郭凯;黄剑斐设计研发完成，并于2022-09-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于影响函数的残余应力分布重构方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于影响函数的残余应力分布预测方法，基于本征应变求解影响函数来重构残余应力分布。以环芯法为例，首先以本征应变为不变量，推导其与表面应变释放之间的定量本构关系；然后求解本构关系中影响函数的具体表达式；最后提出通过表面应变释放与影响函数进行残余应力反演重构的方法，具有适用范围广，精度高等优点，能够克服现有的残余应力测量方法的不足，满足高应力梯度下的高准确性地残余应力测量需求。经实验验证，采用本发明提供的方法得到的重构结果与实验高度吻合，本发明提供的方法实现了微米级别的空间残余应力分布预测，具有微米级分辨率。

本发明授权一种基于影响函数的残余应力分布重构方法在权利要求书中公布了：1.一种基于影响函数的残余应力分布重构方法，其特征在于，包括： S1，建立待测构件的有限元模型，通过设置热膨胀系数使所述有限元模型呈等双轴特性；分别导入沿孔深方向的温度分布、以引入沿所述孔深方向的等双轴本征应变分布A、B，并分别进行环芯铣削仿真，以获得在所述等双轴本征应变分布A、B下，所述待测构件的表面应变；同理，获取在非等双轴本征应变分布下，所述待测构件的表面应变； S2，根据所述待测构件的表面应变，求解所述待测构件在等双轴本征应变及非等双轴本征应变下的影响函数、；其中，D为内孔径，h为钻孔深度，z为本征应变沿深度方向的位置坐标； S3，测量依次间隔45°的三个方向上的圆周点的径向应变，并基于所述影响函数求解所述待测构件的残余应力场；其中，所述圆周以环芯中心为圆心，半径为r； 为对进行拟合得到，为对进行拟合得到； 其中， ； ； ； ; ，L=A,B； ，N为大于1的正整数； 为沿所述孔深方向的等双轴本征应变分布A，为沿所述孔深方向的等双轴本征应变分布B，为等双轴本征应变分布A下所述待测构件的表面应变，为等双轴本征应变分布B下所述待测构件的表面应变； 及的计算方式同理。

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