长鑫存储技术有限公司单晓艳获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利修调测试的方法、装置、电子设备和可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115424652B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211139867.6，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权修调测试的方法、装置、电子设备和可读存储介质是由单晓艳设计研发完成，并于2022-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本修调测试的方法、装置、电子设备和可读存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种修调测试的方法、装置、电子设备和可读存储介质，涉及半导体测试技术领域。其中，基于分类模型进行修调测试的方法包括：获取集成电路芯片的历史修调测试数据，并将所述历史修调测试数据配置为分类训练样本集；使用分类算法对所述分类训练样本集进行模型训练，得到分类修调模型；将基于所述分类修调模型生成的修调文件发送至测试设备，以使所述测试设备基于所述修调文件对目标芯片的修调电路的电路参数进行修调，并对修调后的所述目标芯片进行测试。通过本公开的技术方案，能够对海量Trim实测数据进行有效可靠利用，基于生成的分类修调模型对待测试的目标芯片进行修调测试，有利于简化测试过程、提高测试效率以及降低测试成本。
本发明授权修调测试的方法、装置、电子设备和可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于分类模型进行修调测试的方法，其特征在于，应用于数据处理设备，包括： 获取集成电路芯片的历史修调测试数据，并将所述历史修调测试数据配置为分类训练样本集； 使用分类算法对所述分类训练样本集进行模型训练，得到分类修调模型； 将基于所述分类修调模型生成的修调文件发送至测试设备，以使所述测试设备基于所述修调文件对目标芯片的修调电路的电路参数进行修调，并对修调后的所述目标芯片进行测试。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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