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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利信息检测方法及装置、电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115223649B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210716359.3，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权信息检测方法及装置、电子设备是由李俊杰设计研发完成，并于2022-06-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本信息检测方法及装置、电子设备在说明书摘要公布了：本公开是关于一种信息检测方法及装置、电子设备以及计算机可读存储介质，涉及半导体生产与制造技术领域，可以应用于对DRAM内存条中SPD信息进行真实性检测的场景。该方法包括：获取待检测存储器，确定待检测存储器对应的存储器参数；存储器参数基于操作代码与测试向量的至少一种得到；从待检测存储器对应的检测芯片中获取芯片记录参数；对存储器参数与芯片记录参数进行一致性对比，得到对比结果，以根据对比结果确定芯片记录参数的真实性。本公开可以检测出DRAM内存条中SPD信息是否真实。

本发明授权信息检测方法及装置、电子设备在权利要求书中公布了：1.一种信息检测方法，其特征在于， 包括： 获取待检测存储器，确定所述待检测存储器对应的存储器参数； 所述存储器参数基于操作代码与测试向量的至少一种得到； 从所述待检测存储器对应的检测芯片中获取芯片记录参数； 对所述存储器参数与所述芯片记录参数进行一致性对比，得到对比结果，以根据所述对比结果确定所述芯片记录参数的真实性； 其中，所述存储器参数包括第一存储器参数，所述确定所述待检测存储器对应的存储器参数，包括： 检测设备系统板的通电状态； 响应于检测到所述通电状态为已通电状态，生成所述操作代码； 通过所述操作代码从所述待检测存储器读取所述第一存储器参数；所述第一存储器参数包括所述待检测存储器的厂家信息与容量信息； 其中，所述存储器参数还包括第二存储器参数，确定所述待检测存储器对应的存储器参数，包括： 生成用于获取所述存储器参数的测试向量； 基于所述测试向量对所述待检测存储器进行数据读写操作，根据数据读写结果确定所述第二存储器参数； 其中，所述第二存储器参数包括工作频率，所述基于所述测试向量对所述待检测存储器进行数据读写操作，根据数据读写结果确定所述第二存储器参数，包括： 获取初始工作频率向量，在所述初始工作频率向量中写入寄存器参数，以得到工作频率向量；所述寄存器参数包括所述待检测存储器的候选工作频率； 基于所述工作频率向量向所述待检测存储器中写入第一测试数据； 基于数据写入操作对应的候选工作频率从所述待检测存储器中读取已写入的第一测试数据，作为第一读出数据； 将所述第一读出数据与所述第一测试数据一致的候选工作频率，作为目标工作频率。

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