中国科学院西安光学精密机械研究所陈永权获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种双向反射率测量装置及其测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115184310B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210771548.0,技术领域涉及:G01N21/55;该发明授权一种双向反射率测量装置及其测量方法是由陈永权;达争尚;郑小霞;李红光;张磊设计研发完成,并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种双向反射率测量装置及其测量方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种反射率测量装置及其测量方法,用以解决传统测量方法得到的测量结果置信度低以及复现性差的技术问题。本测量装置包括光源监测单元和测量单元;光源监测单元包括刚性管道以及通过刚性管道封闭连接的光源、分光镜、第一探测器;测量单元包括积分球、第二探测器以及测试仓;测试仓封闭连接在积分球底部侧壁上,测试仓内设置有载物台,载物台用于调整置于承载面上的漫反射参考体或待测样品的位置和姿态。本测量方法中光源的反射光进入第一探测器,透射光入射至漫反射参考体,采集载物台上分别放置漫反射参考体和待测样品时第一探测器和第二探测器的示数,通过其示数结合公式得到待测样品的反射率。
本发明授权一种双向反射率测量装置及其测量方法在权利要求书中公布了:1.一种双向反射率测量装置,其特征在于:包括光源监测单元和测量单元; 所述光源监测单元包括刚性管道9以及通过刚性管道9封闭连接的光源1、分光镜2、第一探测器3,所述刚性管道9内设置有通光光路,所述光源1用于出射平行光束,分光镜2位于光源1的出射光路上,第一探测器3位于分光镜2的反射光光路上; 所述测量单元包括积分球4、第二探测器5以及测试仓6; 所述积分球4侧壁上开设有多个入光孔10,其底部侧壁上开设有通孔;每个入光孔10均配备有塞子,塞子内表面材料与积分球内胆材料一致; 所述测试仓6封闭连接在通孔外侧的积分球4底部侧壁上,测试仓6内设置有载物台7,且载物台7的承载面位于通孔内,载物台7用于调整置于承载面上的漫反射参考体8或待测样品的位置和姿态; 所述第二探测器5位于积分球4内侧壁上,用于接收漫反射参考体8或待测样品在多个角度入射条件下的反射光; 所述光源监测单元通过刚性管道9与积分球4的侧壁封闭连接,所述入光孔10、载物台7依次位于分光镜2的透射光光路上; 所述漫反射参考体8或待测样品位于载物台7上,并对经分光镜2入射至载物台7的透射光束产生漫反射。
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