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龙图腾网获悉中科广化(重庆)新材料研究院有限公司申请的专利半导体芯片的检测方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115035944B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210677654.2，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权半导体芯片的检测方法、装置和计算机设备是由杨学灵;胡洪伟;明瑞梁;梅颜;湛恒乐;陈婷设计研发完成，并于2022-06-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体芯片的检测方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体芯片检测技术领域，公开了一种半导体芯片的检测方法、装置和计算机设备，其中，方法包括：获取半导体芯片的图像作为待分析图像；将待分析图像划分为多级图像序列；计算多级图像序列与预设的模板图像的相似度，得到目标图像；将目标图像与目标检测位置的标准图像进行比对；当目标图像与标准图像的相似度低于设定值时，确定目标检测位置存在缺陷；提取半导体芯片的二维码，并更新半导体芯片的二维码中的信息。本发明提供的半导体芯片的检测方法、装置和计算机设备，实现自动检测可以提高自动化水平和程度，减少人为的差异和误差所导致的误判，并且可以提高半导体芯片生产的可靠性，提高机器和工厂的利用率及改善企业运营成本。

本发明授权半导体芯片的检测方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种半导体芯片的检测方法，其特征在于，包括： 采用CCD图像传感器获取半导体芯片的图像作为待分析图像； 根据预设的模板图像将待分析图像划分为多级图像序列，并根据所述预设的模板图像将所述多级图像序列进行放大；具体包括： 将待分析图像根据模板图像每x×y个像素的像素值加权平均为一个像素构成的一级图像； 将所述一级图像根据预设的像素值划分为若干个区域图像，以所述一级图像左下角为原点建立直角坐标系，以一个像素值为一个间隔，得到所述若干个区域图像的坐标点范围； 将所述待分析图像、一级图像、若干个区域图像组合形成所述多级图像序列； 依次提取所述多级图像序列中一个区域图像进行扩大，得到多个二级区域图像； 根据预设的模板图像和二级区域图像得到行放大比例和列放大比例； 根据所述行放大比例和列放大比例得到行映射值和列映射值，并根据行映射值和列映射值对所述二级区域图像进行插值，得到所述区域图像的放大图像； 采用序贯相关性算法计算多级图像序列与所述预设的模板图像的相似度，以得到所述半导体芯片的目标检测位置的图像，作为目标图像； 将所述目标图像与所述目标检测位置的标准图像进行比对； 当所述目标图像与所述标准图像的相似度低于设定值时，对所述目标图像进行矫正，并在矫正后的目标图像与所述标准图像的相似度低于设定值时，确定所述目标检测位置存在缺陷； 利用所述CCD图像传感器提取所述半导体芯片的二维码，并将所述目标图像通过网络进行传输，以更新所述半导体芯片的二维码中的信息。

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