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龙图腾网获悉日东电工株式会社申请的专利光学薄膜卷绕体、光学薄膜、光学构件、图像显示装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114839704B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210034722.3，技术领域涉及：G02B1/10；该发明授权光学薄膜卷绕体、光学薄膜、光学构件、图像显示装置是由桥本尚树;大本笃志;谷前明宏;高桥和秀;安藤豪彦设计研发完成，并于2022-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学薄膜卷绕体、光学薄膜、光学构件、图像显示装置在说明书摘要公布了：提供光学薄膜卷绕体、光学薄膜、光学构件、图像显示装置。光学薄膜卷绕体满足下述数学式：Ha≥401、0≤|Ha‑H1|Ha≤0.12。式中，H1是在光学薄膜卷绕体的最表层，光学薄膜卷绕体的与卷绕结束的前端正相反的一侧的宽度方向的中心点处的塑料硬度计硬度[Nm]；Ha是光学薄膜卷绕体的与卷绕结束的前端正相反的一侧的宽度方向上的、与一端相距的距离为10mm的点、与一端相距的距离为W4的点、中心点、与另一端相距的距离为10mm的点和与另一端相距的距离为W4的点这五点处的塑料硬度计硬度的平均值[Nm]。W为光学薄膜卷绕体的与卷绕结束的前端正相反的一侧的光学薄膜的宽度[m]。

本发明授权光学薄膜卷绕体、光学薄膜、光学构件、图像显示装置在权利要求书中公布了：1.一种光学薄膜卷绕体，其特征在于，其为包含丙烯酸类薄膜作为基材的光学薄膜的卷绕体， 在所述光学薄膜卷绕体的最表层，塑料硬度计硬度的平均值Ha与中心点的塑料硬度计硬度H1满足下述数学式1和2， Ha≥401 0≤|Ha-H1|Ha≤0.12 所述数学式1和2中， H1是在所述光学薄膜卷绕体的最表层，所述光学薄膜卷绕体的与卷绕结束的前端正相反的一侧的宽度方向的中心点处的塑料硬度计硬度，其单位为Nm， Ha是所述光学薄膜卷绕体的与卷绕结束的前端正相反的一侧的宽度方向上的、与一端相距的距离为10mm的点、与所述一端相距的距离为W4的点、中心点、与另一端相距的距离为W4的点和与所述另一端相距的距离为10mm的点这五点处的塑料硬度计硬度的平均值，其单位为Nm， 其中，W为所述光学薄膜卷绕体的与卷绕结束的前端正相反的一侧的所述光学薄膜的宽度，其单位为m， 所述光学薄膜是利用纳米压痕法进行按压时的塑性变形量为85Nm以下、且弹性恢复率为80％以上的光学薄膜。

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