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龙图腾网获悉宁波翌波光电科技有限公司申请的专利一种探测器晶体缺陷对成像质量影响的量化校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121458839B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610010458.8，技术领域涉及：G06T12/30；该发明授权一种探测器晶体缺陷对成像质量影响的量化校正方法是由张福如;杨建春设计研发完成，并于2026-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种探测器晶体缺陷对成像质量影响的量化校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种探测器晶体缺陷对成像质量影响的量化校正方法，包括：步骤S1，通过多模态检测与理论模型计算，生成融合缺陷物理参数的标准化特征图谱；步骤S2，以该图谱为引导，对探测器阵列进行分区，并依次执行信号级差异化调理、投影级特征嵌入重建与图像级差异化后处理；步骤S3，建立双向迭代反馈链路，动态优化前端采集与后端重建参数；步骤S4，构建全链路数据库并利用其实现模型的增量训练与自适应更新。本发明实现了从缺陷物理本质出发的全链路、自适应协同校正，显著提升了成像系统的精度与鲁棒性。

本发明授权一种探测器晶体缺陷对成像质量影响的量化校正方法在权利要求书中公布了：1.一种探测器晶体缺陷对成像质量影响的量化校正方法，其特征在于，包括： 步骤S1，采集探测器晶体的缺陷多模态信息并量化其晶格畸变程度；基于所述晶格畸变程度与预设理论模型，计算得到缺陷的光子传输损耗系数与散射概率；融合所述缺陷多模态信息、晶格畸变程度、光子传输损耗系数及散射概率，生成标准化的缺陷物理特征图谱； 步骤S2，根据所述缺陷物理特征图谱将探测器阵列划分为不同影响程度的区域，并基于对相应区域的信号采集参数进行差异化调理，生成带有区域与缺陷参数标签的重建输入数据；将所述缺陷物理特征图谱作为约束嵌入图像重建过程，对所述重建输入数据进行重建，得到初步重建图像；依据所述缺陷物理特征图谱对所述初步重建图像进行分区质量评估，并根据评估结果对不同区域执行差异化的图像后处理，输出优化校正图像； 步骤S3，建立双向反馈链路；在正向引导中，将所述缺陷物理特征图谱输入，用于初始化步骤S2中的处理参数；在反向反馈中，采集重建过程产生的通道信号残差以及图像后处理后的质量评估结果，并分别反馈至步骤S2中的信号调理与图像重建环节，以动态调整相应参数；通过所述双向反馈链路进行迭代，直至所述优化校正图像的质量指标满足预设条件； 步骤S4，基于所述缺陷物理特征图谱、所述重建输入数据、所述初步重建图像、所述优化校正图像、以及步骤S3动态调整的参数构建全链路数据库；利用所述全链路数据库中的关联数据，对步骤S2中使用的模型进行增量训练更新。

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