苏州元脑智能科技有限公司钱翔获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利固态硬盘的优化方法及电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121393523B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511959590.5,技术领域涉及:G11C29/56;该发明授权固态硬盘的优化方法及电子设备是由钱翔;邵文豪;丁雨廷设计研发完成,并于2025-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本固态硬盘的优化方法及电子设备在说明书摘要公布了:本发明公开了一种固态硬盘的优化方法及电子设备,涉及电数字数据处理技术领域,可以针对存在问题的固态硬盘进行多次数据读取,并将读取的数据分别存储至对应的存储区间,并基于全量测试测量,在单次改变一个变量的情况下,对存储区间中的任意数量的比特位置进行注错,以得到固态硬盘的软解码测试的全量测试结果,进而利用全量测试结果优化固态硬盘,解决了相关技术中只针对特定位置进行注错,测试量范围小,不能足够真实反应实际软解码流程及其解码能力的技术问题,通过全量仿真注错测试,更容易发现固态硬盘的技术问题,进而实现更加针对性的优化,以延长固态硬盘的使用性能和使用寿命。
本发明授权固态硬盘的优化方法及电子设备在权利要求书中公布了:1.一种固态硬盘的优化方法,其特征在于,包括以下步骤: 响应于软解码测试指令,基于预设偏移值区间内的多个偏移值,多次对满足预设错误条件的固态硬盘进行读取,以得到所述固态硬盘的多个参考值,并将多个所述参考值分别存储至对应的存储区间; 基于所述固态硬盘的电压分布特征确定多个对数似然比表,并结合所述固态硬盘的纠错区间和多个所述对数似然比表生成相应的全量测试策略; 基于所述全量测试策略,对所述存储区间中的任意数量的比特位置进行注错,以得到所述固态硬盘的软解码测试的全量测试结果,并利用所述全量测试结果优化所述固态硬盘; 其中,所述基于所述全量测试策略,对所述存储区间中的任意数量的比特位置进行注错,以得到所述固态硬盘的软解码测试的全量测试结果,包括: 遍历所述纠错区间,将任一数量的错误比特数注入至任意数量的所述比特位置;对所述比特位置进行比特翻转,以得到响应比特翻转后的多个注错参考值;对多个所述注错参考值进行软解码,得到任一数量的所述错误比特数对应的第一软解码测试结果;结合所述纠错区间内的所有数量的错误比特数对应的第一软解码测试结果,得到第一循环软解码测试结果;基于所述第一循环软解码测试结果得到所述全量测试结果; 以多个所述对数似然比表为变量,将所述纠错区间内的任一数量的所述错误比特数注入至所述任意数量的比特位置,得到相应的多个所述注错参考值;利用任一所述对数似然比表对响应比特翻转后的多个所述注错参考值进行软解码,得到任一所述对数似然比表对应的第二软解码测试结果;结合多个所述对数似然比表对应的第二软解码测试结果,得到第二循环软解码测试结果;基于所述第二循环软解码测试结果得到所述全量测试结果; 遍历所述预设偏移值区间,基于多个所述偏移值对所述固态硬盘进行读取,得到所述固态硬盘的多个参考值;获取多个所述参考值在多个所述对数似然比表和任一数量的所述错误比特数下的第三软解码测试结果;结合所述预设偏移值区间内所有偏移值对应的第三软解码测试结果,得到第三循环软解码测试结果;基于所述第三循环软解码测试结果得到所述全量测试结果; 其中,所述基于所述固态硬盘的电压分布特征确定多个对数似然比表,包括:利用多个所述偏移值对任一参考电压进行偏移,得到多个偏移参考电压;分别获取多个所述偏移参考电压和任一所述参考电压对应的电压分布特征,以基于所述电压分布特征得到多个所述对数似然比表。
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