苏州凌存科技有限公司陈劲中获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州凌存科技有限公司申请的专利一种硅电容器及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121368171B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511942236.1,技术领域涉及:H10D84/00;该发明授权一种硅电容器及其制备方法是由陈劲中;吴迪设计研发完成,并于2025-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种硅电容器及其制备方法在说明书摘要公布了:本申请提供一种硅电容器及其制备方法,属于半导体领域。本申请提供的硅电容器包括:硅晶圆,包括相对设置的上表面和下表面;硅晶圆的上表面的中心区域设有多个沟槽,沟槽的开口与硅晶圆的上表面齐平;在硅晶圆的上表面无沟槽区域和沟槽内设有介电层薄膜;在介电层薄膜上表面、与中心区域对应位置处设有硅电容的上电极;在介电层薄膜上表面、与硅电容的上电极间隔第一预设距离处,设有MIM电容的上电极,硅电容和MIM电容的上表面齐平;金属线,金属线连接硅电容和MIM电容的上表面;在硅晶圆的下表面和金属线的上表面分别设有第一电极和第二电极。本申请提供的硅电容器及其制备方法,可在扩展电容器的带宽的同时降低生产成本。
本发明授权一种硅电容器及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种硅电容器,其特征在于,所述硅电容器包括: 硅晶圆,包括相对设置的上表面和下表面; 所述硅晶圆的上表面的中心区域设有多个沟槽,所述沟槽的开口与所述硅晶圆的上表面齐平;在所述硅晶圆的上表面无沟槽区域和所述沟槽内设有介电层薄膜;在所述介电层薄膜上表面、与所述中心区域对应位置处设有硅电容的上电极;在所述介电层薄膜上表面、与所述硅电容的上电极间隔第一预设距离处,设有MIM电容的上电极,所述硅电容和所述MIM电容的上表面齐平; 金属线,所述金属线连接所述硅电容和所述MIM电容的上表面; 在所述硅晶圆的下表面和所述金属线的上表面分别设有第一电极和第二电极。
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