上海韦尔半导体股份有限公司曹培明获国家专利权
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龙图腾网获悉上海韦尔半导体股份有限公司申请的专利一种MOSFET版图及MOSFET器件获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN224006997U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520153818.0,技术领域涉及:H10D62/10;该实用新型一种MOSFET版图及MOSFET器件是由曹培明;衷世雄;董建新设计研发完成,并于2025-01-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种MOSFET版图及MOSFET器件在说明书摘要公布了:本申请提供了一种MOSFET版图及MOSFET器件,通过在每个所述第一沟槽区中设置有两个间隔设置的栅极接触孔区,通过优化版图,即调整栅极多晶硅接触孔的数目和尺寸,改善栅极接触孔的位置,采用对称的结构,避免接触孔偏移至中间最凹位置,导致接触不良,增加栅极接触面积,对栅极接触电阻有减小的作用。
本实用新型一种MOSFET版图及MOSFET器件在权利要求书中公布了:1.一种MOSFET版图,其特征在于,包括:终端区和元胞区,所述终端区设置在所述元胞区周围; 所述元胞区包括多个间隔设置的第一沟槽区; 所述终端区包括多个间隔设置的第二沟槽区; 多个所述第一沟槽之间设置有源极接触孔区; 每个所述第一沟槽区中设置有两个间隔设置的栅极接触孔区。
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