芯云纵横半导体(上海)有限公司王伟君获国家专利权
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龙图腾网获悉芯云纵横半导体(上海)有限公司申请的专利分离式测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224005219U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520539355.1，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型分离式测试装置是由王伟君;朱渊;赵达君设计研发完成，并于2025-03-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本分离式测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型提供了一种分离式测试装置，涉及半导体测试设备技术领域，通过将测试上底座和测试下底座相互连接为一体，测试导框为独立部件，测试导框能够独立升降移动，从而带动芯片主体相对于测试上底座和测试下底座升降移动，进而控制探针导通测试电路板和芯片主体，进行测试，缓解了现有技术中存在的测试下底座、测试上底座以及用于固定待测芯片的载框三者连接在一起，导致在OLGA类领域芯片测试中所需空间较大且不可分割的技术问题。
本实用新型分离式测试装置在权利要求书中公布了：1.一种分离式测试装置，其特征在于，包括：测试上底座100、测试下底座200和测试导框300； 所述测试上底座100设置于所述测试下底座200上，所述测试下底座200用于连接测试电路板20，且所述测试上底座100和所述测试下底座200相互连接，所述测试上底座100和所述测试下底座200穿设有用于使芯片主体10和所述测试电路板20导通的探针30； 所述测试导框300用于承装所述芯片主体10，且所述测试导框300配置为能够做升降移动，以带动所述芯片主体10相对于所述测试上底座100和所述测试下底座200升降移动。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人芯云纵横半导体(上海)有限公司，其通讯地址为：201000 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区丹桂路835、937号主楼(1幢)411室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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