卓芯微(厦门)半导体有限责任公司张伟娜获国家专利权
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龙图腾网获悉卓芯微(厦门)半导体有限责任公司申请的专利一种半导体器件高温老化测试加速装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224005211U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520547755.7，技术领域涉及：G01R31/26；该实用新型一种半导体器件高温老化测试加速装置是由张伟娜设计研发完成，并于2025-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体器件高温老化测试加速装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种半导体器件高温老化测试加速装置，包括测试装置本体，所述测试装置本体包括测试架和设置在测试架上后侧固定连接有半导体制冷片，所述测试架顶部设置有加热片，所述加热片一侧连接有加热管，所述加热管上方设置有散热风扇，所述半导体制冷片的加热面贴合测试架的背部，所述半导体制冷片的制冷面贴合有散热片，所述散热片通过水管连接有冷排，所述冷排的上方设置有数据处理模块，所述测试架上还设置有用于采集数据的传感器，所述传感器与数据处理模块电连接，可以实现对半导体器件的高温老化测试加速，同时利用半导体制冷片对测试架背部进行散热，避免了高温对设备本身的损害，提高了设备的稳定性和测试精度。
本实用新型一种半导体器件高温老化测试加速装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件高温老化测试加速装置，其特征在于：包括测试装置本体1，所述测试装置本体1包括测试架2和设置在测试架2上后侧固定连接有半导体制冷片3，所述测试架2顶部设置有加热片4，所述加热片4一侧连接有加热管5，所述加热管5上方设置有散热风扇6，所述半导体制冷片3的加热面7贴合测试架2的背部，所述半导体制冷片3的制冷面8贴合有散热片9，所述散热片9通过水管连接有冷排10，所述冷排10的上方设置有数据处理模块11，所述测试架2上还设置有用于采集数据的传感器12，所述传感器12与数据处理模块11电连接。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人卓芯微(厦门)半导体有限责任公司，其通讯地址为：361100 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区洪垵路670号六层三单元之八；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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