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龙图腾网获悉苏州鑫达半导体科技有限公司申请的专利一种半导体元件加速老化测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224005210U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520499391.X，技术领域涉及：G01R31/26；该实用新型一种半导体元件加速老化测试装置是由张育嘉设计研发完成，并于2025-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体元件加速老化测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种半导体元件加速老化测试装置，涉及半导体老化测试技术领域，包括测试箱，包括，固定机构，安装于测试箱内部，包括抽拉组件、支撑组件和固定组件，所述抽拉组件安装于测试箱内壁底部，所述支撑组件和固定组件安装于抽拉组件表面，所述固定组件设置于支撑组件表面；以及，所述抽拉组件包括滑轨、移动板和第一齿板，所述滑轨和第一齿板固定连接于测试箱内壁底部，所述移动板滑动连接于滑轨表面。本实用新型通过固定机构能够对半导体元件快速完成固定与拆卸，不需要通过手动对半导体元件引脚进行固定连接并通电，安全性高，能通过在箱体内抽拉取放的过程中完成对半导体的固定与拆卸。

本实用新型一种半导体元件加速老化测试装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体元件加速老化测试装置，包括测试箱100，其特征在于：包括， 固定机构200，安装于测试箱100内部，包括抽拉组件201、支撑组件202和固定组件203，所述抽拉组件201安装于测试箱100内壁底部，所述支撑组件202和固定组件203安装于抽拉组件201表面，所述固定组件203设置于支撑组件202表面；以及， 所述抽拉组件201包括滑轨201a、移动板201b和第一齿板201c，所述滑轨201a和第一齿板201c固定连接于测试箱100内壁底部，所述移动板201b滑动连接于滑轨201a表面，所述支撑组件202包括花键管202a、转杆202d和导柱202e，所述花键管202a滑动连接于移动板201b表面，所述转杆202d上端滑动连接于花键管202a内壁，所述导柱202e固定连接于转杆202d上端，所述固定组件203包括传动件203e和下压件203f，所述传动件203e设置于移动板201b和转杆202d表面，所述下压件203f安装于传动件203e表面。

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