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龙图腾网获悉安徽至博光电科技股份有限公司申请的专利一种光学检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121346958B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511941001.0，技术领域涉及：G01H9/00；该发明授权一种光学检测系统及方法是由赵雨露;吕韬;王瑞;王秀娟设计研发完成，并于2025-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光学检测系统及方法，属于光学非接触测量技术领域。本发明通过采用低相干性宽谱光源，结合色散元件与阵列探测器将其宽光谱在空间上分离以构建多个并行的独立波长测量通道，同时集成基于经验模态分解、希尔伯特变换及窗口长度自适应Savitzky‑Golay滤波的包络提取算法，对各通道信号进行实时质量评估与动态加权融合，实现对恶劣散斑环境下振动测量连续性与稳定性的显著提升，以低成本实现高维度波长分集，并通过自适应包络提取算法进行实时质量评估与加权融合，最终输出信噪比与测量精度显著提升的振动测量值。

本发明授权一种光学检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种光学检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：通过宽谱光源输出低相干性宽带光束，其中，所述宽谱光源为超辐射发光二极管；所述宽带光束的带宽Δλ和目标被测表面的粗糙度Ra满足：Δλ=λ04Ra，λ0为所述宽谱光源的中心波长； S2：将宽带光束分束为参考光和测量光，并对所述参考光进行频率调制； S3：将所述测量光引导至目标被测表面，并接收从该表面返回的散射光， 使所述返回的散射光与调制后的所述参考光发生干涉，产生干涉光； S4：通过色散元件将所述干涉光中不同波长的成分在空间上分离，形成多个并行的独立波长测量通道，并通过阵列探测器同步采集各测量通道输出的干涉信号； S5：并行解调各所述波长测量通道的干涉信号，获得各通道对应的初步振动数据，所述干涉信号： 其中，t为时间；为信号幅值包络；为第i个通道对应的波长； S6：通过自适应包络提取算法计算各通道干涉信号的最终包络； S7：对所述最终包络进行归一化处理，得到各通道的归一化权重，结合所述初步振动数据Sit进行加权融合，输出最终振动测量值： 。

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