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龙图腾网获悉中国科学院理化技术研究所申请的专利谐振腔低温系统及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121114078B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511659387.6，技术领域涉及：G01N22/00；该发明授权谐振腔低温系统及其测试方法是由张泓玮;刘辉明;黄荣进;周远设计研发完成，并于2025-11-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本谐振腔低温系统及其测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及谐振腔领域，提供一种谐振腔低温系统及其测试方法。谐振腔低温系统包括真空罩；谐振腔，设置在真空罩的内部；样品座，设置在谐振腔的外部；至少一个GM制冷机组，用于为谐振腔或样品座提供冷量；机械减振组件，配置成用于隔离GM制冷机组工作时产生的机械振动；样品杆组件，样品杆组件适于插入真空罩内，以将待测样品输送至样品座和谐振腔。该谐振腔低温系统可以在4K‑300K宽温区实现样品材料的微波表面电阻测量，基于GM制冷机提供冷源，降低维护成本、提高低温系统寿命和可靠性；实现样品材料的低噪声、高可靠性测试；还可实现测试样品的快速更换，并不破坏低温真空环境，提高测试效率。

本发明授权谐振腔低温系统及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种谐振腔低温系统，其特征在于，包括： 真空罩100； 谐振腔102，设置在所述真空罩100的内部； 样品座104，设置在所述谐振腔102的外部； 至少一个GM制冷机组106，用于为所述谐振腔102或所述样品座104提供冷量； 机械减振组件108，配置成用于隔离所述GM制冷机组106工作时产生的机械振动，所述机械减振组件108还包括光学减振平台128、多个第一支撑杆130、第二支撑杆131和第三支撑杆132，所述真空罩100通过所述第一支撑杆130支撑于地面，以使所述真空罩100与所述光学减振平台128之间形成非接触式支撑，所述第二支撑杆131的一端与所述GM制冷机组106连接，所述第二支撑杆131的另一端连接有刚性连接板133，所述第三支撑杆132的一端连接于所述光学减振平台128，所述第三支撑杆132另一端连接于所述刚性连接板133，以将所述GM制冷机组106的振动传递至所述光学减振平台128； 样品杆组件110，所述样品杆组件110适于插入所述真空罩100内，以将待测样品输送至所述样品座104和所述谐振腔102。

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