中建二局第二建筑工程有限公司李东欣获国家专利权
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龙图腾网获悉中建二局第二建筑工程有限公司申请的专利一种环氧地坪涂层厚度激光扫描与大数据分析装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121048512B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511593548.6,技术领域涉及:G01B11/06;该发明授权一种环氧地坪涂层厚度激光扫描与大数据分析装置是由李东欣;彭岩利;熊望辉;刘永亮;李力壮;刘严人;刘帅;杨楠设计研发完成,并于2025-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种环氧地坪涂层厚度激光扫描与大数据分析装置在说明书摘要公布了:本发明涉及环氧地坪质量检测技术领域,具体涉及一种环氧地坪涂层厚度激光扫描与大数据分析装置,包括:获取待测环氧地坪表面的激光共振谱扫描数据与应力波扫描数据;基于激光共振谱扫描数据,计算涂层表面的第一振动模态频率集,基于应力波扫描数据,计算涂层与基体界面的第二振动模态频率集;基于第一振动模态频率集与第二振动模态频率集,通过查询预设的厚度与频率关联谱数据库,确定涂层的当前厚度分布;基于当前厚度分布与厚度与频率关联谱数据库中的历史施工数据,进行匹配度分析,确定涂层的均匀性等级与潜在缺陷区域。通过厚度与频率关联谱数据库存储的数据进行匹配,精准识别潜在的缺陷。
本发明授权一种环氧地坪涂层厚度激光扫描与大数据分析装置在权利要求书中公布了:1.一种环氧地坪涂层厚度激光扫描与大数据分析装置,其特征在于,包括: 数据采集模块:获取待测环氧地坪表面的激光共振谱扫描数据与应力波扫描数据; 振动信号采集模块:基于激光共振谱扫描数据,计算涂层表面的第一振动模态频率集,基于应力波扫描数据,计算涂层与基体界面的第二振动模态频率集; 厚度匹配模块:基于第一振动模态频率集与第二振动模态频率集,通过查询预设的厚度与频率关联谱数据库,确定涂层的当前厚度分布; 缺陷分析模块:基于当前厚度分布与厚度与频率关联谱数据库中的历史施工数据,进行匹配度分析,确定涂层的均匀性等级与潜在缺陷区域; 所述厚度匹配模块通过数据总线实现第一振动模态频率集、第二振动模态频率集与厚度与频率关联谱数据库的实时交互,厚度与频率关联谱数据库预设的映射关系模型为基于大量样本数据建立的涂层厚度与第一振动模态频率集以及第二振动模态频率集的三维非线性模型,映射关系模型包括匹配度计算以及厚度反演计算,将当前扫描点的特征频率数据构建为一个输入向量F: 其中,-表示第一振动模态频率集的第m个频率值,-表示第二振动模态频率集的n-m个频率值,计算输入向量F与厚度与频率关联谱数据库中第k个样本数据向量的匹配度,具体计算公式如下: 其中,表示输入向量F的第i个特征频率分量,表示样本向量的第i个特征频率分量; 所述缺陷分析模块从厚度与频率关联谱数据库中,调取当前被测地坪具有相同施工参数及环境参数的历史施工项目的厚度分布数据,并将此数据作为评估当前涂层均匀性的匹配基准,通过均方根误差算法,计算当前厚度分布与匹配基准厚度分布之间的统计偏差值,具体计算公式如下: 其中,表示均方根误差,M和N表示厚度矩阵的行数和列数,表示当前矩阵中第i,j点的厚度值,表示基准矩阵中对应点的厚度值。
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