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龙图腾网获悉北京世维通科技股份有限公司申请的专利一种光电探测器加电测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120468465B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510693154.1，技术领域涉及：G01R1/04；该发明授权一种光电探测器加电测试系统及方法是由钱艳维;杨志强;庞坤英;卢朝亮;李子豪;王浩龙设计研发完成，并于2025-05-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光电探测器加电测试系统及方法在说明书摘要公布了：本申请提供的光电探测器加电测试系统及方法，适时控制旋转轴移动或翻转，以实现漏斗锁紧器与托盘锁紧和释放托盘。利用漏斗锁紧器中的透明漏斗、纵波振动器将待测光电探测器的位置和角度固定。利用三爪引脚撑开器将每一待测光电探测器的引脚撑开至适宜角度，之后控制阵列式点接触电路板和待测光电探测器的引脚实现点接触。阵列式点接触电路板在与待测光电探测器的引脚点接触后，根据待测光电探测器是否正常得到不同的电信号，将电信号发送给中控器后即可由中控器自动得到待测光电探测器的测试结果。本申请方案，提高了待测光电探测器的定位精度，降低了对引脚的损伤。

本发明授权一种光电探测器加电测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种光电探测器加电测试系统，其特征在于，包括： 中控器； 框架，包括竖直设置的导轨和导轨顶部的盖板； 物料平台，用于放置托盘，所述托盘内以阵列形式设置待测光电探测器； 漏斗锁紧器，包括漏斗固定板、所述漏斗固定板上以阵列形式设置的透明漏斗，所述透明漏斗与所述待测光电探测器的阵列形式相同，所述透明漏斗的高度小于所述待测光电探测器的引脚长度；所述漏斗固定板上设置有锁紧钩，所述锁紧钩用于在与所述托盘接触时锁紧托盘； 运动控制模块，包括旋转轴、电机组件和纵波振动器，电机组件包括直线电机和伺服电机；所述旋转轴经所述电机组件设置于所述导轨上；所述直线电机在所述中控器的指示下控制所述旋转轴带动所述漏斗锁紧器沿所述导轨方向移动，所述伺服电机在所述中控器的指示下控制所述旋转轴带动所述漏斗锁紧器转动；所述纵波振动器设置于所述旋转轴与所述漏斗锁紧器之间，在所述中控器的指示下振动； 三爪引脚扩口模块，以与所述待测光电探测器相同的阵列形式设置多个三爪引脚撑开器，每一所述三爪引脚撑开器用于在所述中控器的指示下将所述待测光电探测器的引脚撑开至适宜角度； 阵列式点接触电路板，设置有弹性触点阵列，所述弹性触点阵列与所述待测光电探测器的引脚阵列形式相同；每一弹性触点与待测光电探测的对应引脚点接触；所述阵列式点接触电路板向所述中控器发送电信号，所述电信号供所述中控器确定所述待测光电探测器的测试结果。

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